[发明专利]一种基于X射线影像的电力设备各部件厚度分析方法

权利要求书

1.一种基于X射线影像的电力设备各部件厚度分析方法，其特征在于，所述分析方法包括如下步骤：

(1)接收X射线数字成像板获得的图像，判断图像质量是否满足要求；

(2)对图像进行预处理；

(3)计算像素点灰度；

(4)分割图像；

(5)计算X射线所穿过设备的总厚度；

(6)计算出图像中各个颜色所对应的厚度和各个部件厚度。

2.如权利要求1所述的分析方法，其特征在于，所述分析方法包括如下步骤：

(1)接收X射线数字成像板获得的图像，判断图像质量是否满足要求；

(2)对图像进行噪声过滤和灰度化处理；

(3)将灰度图像中像素的灰度G用百分比表示，0％表示白色，100％表示黑色；

(4)分割图像，描绘出灰度相同的区域的轮廓，划分等灰度区域，获得各区域灰度值G与最大灰度值G_max的比值，得到灰度百分比M；

(5)根据X射线强度在穿过物体时的衰减规律、射线强度和灰度百分比M的关系，求得X射线所穿过设备的总厚度；

(6)将红、橙、黄、绿、青、蓝、紫，七种色系按照排列分成100种颜色，将颜色与灰度百分比成一一对应的关系，并将对应的颜色按照步骤(4)中划分好的图像生成色系分布图，计算出图像中各个颜色所对应的厚度并在图像中注释出所对应的部件厚度。

3.如权利要求2所述的分析方法，其特征在于，所述步骤(5)中衰减规律公式为：

$I=I_0{e}^{k{\mathrm{\μ}}_m\mathrm{\ρd}}---\left(1\right)$

式中I₀和I分别为X射线穿过物体前后的X射线强度，μ_m为射线所穿过材料的质量吸收系数，ρ为射线所穿过材料的密度，d为射线所穿过设备的总厚度，k为修正系数。

4.如权利要求2所述的分析方法，其特征在于，所述步骤(5)中射线强度I和灰度百分比M的关系为：

I＝I₀(1-M)(2)

所述公式(2)代入公式(1)可得

$d=\frac{ln(1-M)}{{\mathrm{k\μ}}_m\mathrm{\ρ}}---\left(3\right)$

即可求得X射线所穿过设备的总厚度。

5.如权利要求3中所述的分析方法，其特征在于，所述修正系数k可通过测量出图像中对应设备的总厚度d代入公式(3)，反解出修正系数k。

6.如权利要求3所述的分析方法，其特征在于，所述X射线强度会随着传输距离发生变化，当图像中部件的位置不在同一平面时，可根据X射线的传播规律公式得出。

7.如权利要求6所述的分析方法，其特征在于，所述X射线的传播规律公式为：

$\frac{I_0}{I_1}=\frac{{R_1}^2}{{R_0}^2}---\left(4\right)$

式中，R₁和R₀为当前照射点到X射线发射点的距离，I₁和I₀为对应照射点处的X射线强度。