[发明专利]一种并列式多波长多参量同时测量的系统在审

专利信息
申请号: 201710246600.X 申请日: 2017-04-16
公开(公告)号: CN106918366A 公开(公告)日: 2017-07-04
发明(设计)人: 王丽;闫欢欢 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01D21/02 分类号: G01D21/02;G01D5/353
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司11203 代理人: 沈波
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 并列 波长 参量 同时 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种并列式多波长多参量同时测量的系统,其特征在于:系统包括第一宽带光源(1)、第二宽带光源(2)、第一WDM(3)、第二WDM(7)、第三WDM(10)、第四WDM(12)、光谱分析仪(4)、计算机(5)、3dB耦合器(6)、第一敏感光纤(8)、第二敏感光纤(9)、第三敏感光纤(11)、第四敏感光纤(13);

第一宽带光源(1)和第二宽带光源(2)并联设置,第一宽带光源(1)和第二宽带光源(2)均与第一WDM(3)连接,第一宽带光源(1)、第二宽带光源(2)和第一WDM(3)构成波分复用的过程;第一WDM(3)通过3dB耦合器(6)连接第二WDM(7)和第三WDM(10),第二WDM(7)和第三WDM(10)为并列关系,3dB耦合器(6)与第二WDM(7)连接,第一敏感光纤(8)和第二敏感光纤(9)通过并联的方式连接在第二WDM(7)上;第三WDM(10)和第三敏感光纤(11)连接,第三WDM(10)和第四WDM(12)连接,第四WDM(12)和第四敏感光纤(13)连接,第N个WDM连接第N-1个WDM,第N个WDM连接第N个敏感光纤,N取正整数;3dB耦合器(6)将第二WDM(7)和第三WDM(10)中返回来的光谱传入光谱分析仪(4);光谱分析仪(4)与计算机(5)连接。

2.根据权利要求1所述的一种并列式多波长多参量同时测量的系统,其特征在于:连接的WDM的个数N以及WDM后所连的敏感光纤的个数N都根据所需探测的参量决定。

3.根据权利要求1所述的一种并列式多波长多参量同时测量的系统,其特征在于:根据敏感光纤的种类接入不同的光源。

4.根据权利要求1所述的一种并列式多波长多参量同时测量的系统,其特征在于:光从第一宽带光源(1)和第二宽带光源(2)发射出来,进入第一WDM(3)然后经3dB耦合器(6)传入到下一个第二WDM(7),经过WDM分成两路与分别与所需的第一敏感光纤(8)和第二敏感光纤(9)光通过敏感光纤的一端反射回来,经过WDM合成一路再经3dB耦合器传到光谱分析仪(4),最终将光谱传入计算机(5)构成实时自动化监控的传感器;根据实际情况的需要在3dB耦合器(6)的另一端级联多个WDM在经过WDM的分光作用形成多路,连接多个敏感光纤,实现多参量同时测量。

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