[发明专利]一种检测透明聚合物拉伸膜取向均衡度的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201710249965.8 申请日: 2017-04-17
公开(公告)号: CN108732107B 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 李化毅;吴义室;王笃金;张瑜;李倩 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 代理人: 刘元霞;牛艳玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 透明 聚合物 拉伸 取向 均衡 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种检测透明聚合物拉伸膜取向均衡度的装置,其特征在于,所述装置包括:信号发生模块,用于将透明聚合物拉伸膜的取向均衡度转换成透明聚合物拉伸膜取向均衡度相当的光谱信号,并发送至数据采集处理模块中;

数据采集处理模块,用于将上述取向均衡度相当的光谱信号转换成1931CIE-XYZ色彩系统对应的X、Y、Z值并进行存储,再将其与预先设定的取向均衡度的光谱数据RGB基准库的数据进行比较运算,判定透明聚合物拉伸膜的光谱分布特征和强度,将判断信号发送至显示模块;

显示模块,用于输出透明聚合物拉伸膜取向均衡度判断结果;

所述的信号发生模块包括发光部件和检测部件;所述发光部件包含一光源,用于提供白光;所述检测部件包括自下而上平行设置的第一偏振元件和第二偏振元件,所述第一偏振元件和第二偏振元件的偏振化方向夹角为垂直设置,所述检测部件位于所述发光部件上部;检测时,待检测的透明聚合物拉伸膜位于所述第一偏振元件和第二偏振元件之间;或者,

所述的信号发生模块包括发光部件和检测部件;所述发光部件包含一光源,用于提供白光;所述检测部件包括自下而上平行设置的第一偏振元件和第二偏振元件,所述第一偏振元件和第二偏振元件的偏振化方向夹角为平行设置,所述检测部件位于所述发光部件上部;检测时,待检测的透明聚合物拉伸膜位于所述第一偏振元件和第二偏振元件之间;或者,

所述的信号发生模块包括发光部件和检测部件,所述发光部件包含一光源,用于提供白光;所述检测部件包括自下而上平行设置的第一偏振元件和第二偏振元件,所述检测部件位于所述发光部件上部;其中,第二偏振元件周围设置一偏振元件旋转架,用于实现第二偏振元件的旋转,检测时,第一偏振元件固定不动、第二偏振元件首先旋转到与所述第一偏振元件的偏振化方向夹角为垂直设置时,存储数据;然后旋转到与所述第一偏振元件的偏振化方向夹角为平行设置时,再次存储数据;检测时,待检测的透明聚合物拉伸膜位于所述第一偏振元件和第二偏振元件之间;或者,

所述的信号发生模块包括发光部件和检测部件,所述发光部件包含一光源,用于提供白光;所述发光部件还包括分光部件,用于将发光部件提供的白光分成两路平行的光源;所述检测部件包括第一检测部件和第二检测部件,其中,所述的第一检测部件包括自下而上平行设置的第一偏振元件和第二偏振元件,所述第一偏振元件和第二偏振元件的偏振化方向夹角为垂直设置;所述的第二检测部件包括自下而上平行设置的第三偏振元件和第四偏振元件,所述第三偏振元件和第四偏振元件的偏振化方向夹角为水平设置;所述第一检测部件位于第一路光源上部,所述第二检测部件位于第二路光源上部;检测时,待检测的透明聚合物拉伸膜位于所述第一偏振元件及第三偏振元件与第二偏振元件及第四偏振元件之间。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述发光部件还包含一反光碗,其位于光源底部,用于聚集光源。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述的第一偏振元件和第二偏振元件大小相同,且第二偏振元件位于第一偏振元件正上方,且所述的第一偏振元件和第二偏振元件的对称中心位于同一垂直线上。

4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,存在第三、第四偏振元件时,所述的第一偏振元件和第二偏振元件大小相同,且第二偏振元件位于第一偏振元件正上方,且所述的第一偏振元件和第二偏振元件的对称中心位于同一垂直线上;所述的第三偏振元件和第四偏振元件大小相同,且第三偏振元件位于第四偏振元件正上方,且所述的第三偏振元件和第四偏振元件的对称中心位于同一垂直线上。

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,存在第三、第四偏振元件时,所述的第一偏振元件与第三偏振元件位于同一水平线上,所述的第二偏振元件与第四偏振元件位于同一水平线上。

6.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,在检测部件中,所述的第一偏振元件和第二偏振元件的垂直距离为0.5~15cm。

7.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,存在第三、第四偏振元件时,所述的第一偏振元件和第二偏振元件的垂直距离为0.5~15cm;所述的第三偏振元件和第四偏振元件的垂直距离为0.5~15cm。

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