[发明专利]TTI介质层析反演成像方法及计算机可读存储介质

权利要求书

1.一种TTI介质层析反演成像方法，包括：

输入数据；

基于TTI介质的各向异性参数(v_p0,ε,δ,θ₀)其中的各向异性参数ε和δ进行反演，获取精确的参数ε和δ的结果；

基于所述精确的参数ε和δ的结果，对所述各向异性参数ε、δ和v_p0进行反演，获取精确的参数ε、δ和v_p0的结果；

基于所述精确的参数ε、δ和v_p0的结果，对所述各向异性参数ε、δ、v_p0和θ₀进行反演，获取所述各向异性参数(v_p0,ε,δ,θ₀)的反演结果；

其中，v_p0为沿对称轴方向的qp波相速度；ε和δ为Thomsen参数；θ₀为波前法线方向与对称轴的夹角。

2.根据权利要求1所述的TTI介质层析反演成像方法，其中，对所述各向异性参数ε和δ反演时，所述各向异性参数v_p0和θ₀设为0，进行多次迭代获取所述各向异性参数ε和δ的反演结果。

3.根据权利要求1所述的TTI介质层析反演成像方法，其中，对所述各向异性参数ε、δ和v_p0反演时，所述各向异性参数θ₀设为0，进行多次迭代获取所述各向异性参数ε、δ和v_p0的反演结果。

4.根据权利要求1所述的TTI介质层析反演成像方法，其中，对所述各向异性参数ε、δ、v_p0和θ₀反演，进行多次迭代获取所述各向异性参数ε、δ、v_p0和θ₀的反演结果。

5.一种计算机可读存储介质，其上存储计算机程序，其中，所述程序被处理器执行时实现以下步骤：

基于TTI介质的各向异性参数(v_p0,ε,δ,θ₀)其中的各向异性参数ε和δ进行反演，获取精确的参数ε和δ的结果；

基于所述精确的参数ε和δ的结果，对所述各向异性参数ε、δ和v_p0进行反演，获取精确的参数ε、δ和v_p0的结果；

基于所述精确的参数ε、δ和v_p0的结果，对所述各向异性参数ε、δ、v_p0和θ₀进行反演，获取所述各向异性参数(v_p0,ε,δ,θ₀)的反演结果；

其中，v_p0为沿对称轴方向的qp波相速度；ε和δ为Thomsen参数；θ₀为波前法线方向与对称轴的夹角。

6.根据权利要求5所述的计算机可读存储介质，其中，对所述各向异性参数ε和δ反演时，所述各向异性参数v_p0和θ₀设为0，进行多次迭代获取所述各向异性参数ε和δ的反演结果。

7.根据权利要求5所述的计算机可读存储介质，其中，对所述各向异性参数ε、δ和v_p0反演时，所述各向异性参数θ₀设为0，进行多次迭代获取所述各向异性参数ε、δ和v_p0的反演结果。

8.根据权利要求5所述的计算机可读存储介质，其中，对所述各向异性参数ε、δ、v_p0和θ₀反演，进行多次迭代获取所述各向异性参数ε、δ、v_p0和θ₀的反演结果。