[发明专利]用于测试LED集成模组的测试机构及其分光机和编带机

说明书

技术领域

本发明涉及到机械领域，特别是涉及一种用于测试LED集成模组的测试机构及其分光机和编带机。

背景技术

贴片式发光二极管(SMD（surface mount device）LED)是一种新型表面贴装式半导体发光器件，具有体积小、散射角大、发光均匀性好、可靠性高等优点，发光颜色包括白光在内的各种颜色，因此，被广泛应用于显示屏、液晶面板背光、装饰灯光和通用照明等各种电子产品上。

由于LED封装出厂前必须进行分色分光处理，按照波长、亮度和工作电压等参数把LED分成很多档（Bin）和类别，然后自动根据设定的测试标准把LED分装在不同的Bin管内。而分光机就是通过对LED 发出光的波长( 颜色)、光强、电流电压大小等参数进行分类筛选的机器，其工作原理是由圆形振动盘与平行振动轨道负责送料，通过吸嘴将LED 送至转盘，经由测试站量测光电特性之后，系统会根据量测仪器的测试结果，( 主要包括波长( 颜色)、光强、电流电压大小进行分类) 通过分料机构将LED 送至所属落料盒。

编带机则主要用于将零散的引线型电子元器件(如电容、二极管、三极管和电感等)编带，其基本框架是由圆形振动盘与一组平行震动轨道负责送料，再由特制吸嘴将电子元器件依序送进测试站，经由极性判断后再将不合格的电子元器件吹进废料盒，将合格的电子元器件依序送进卷带内并包装完毕。就LED编带而言，在LED安装至相应的电器上或者为实现工业化的大批量生产对LED进行编带封装之前，都应对LED进行相应的测试，以使生产出来的电子产品能够正常使用。

分光机和编带机在实际应用中都需要用到测试机构对电子元器件进行检测，传统的分光机和编带机的测试机构一般只有单个测试站，通过探针从两侧或底部对LED的所有引脚同时进行测试，但是现有的小间距LED显示屏主要采用2121、1515、1010、0808等型号封装器件，随着LED显示屏像素间距的缩小，引脚间的间距也不断缩小，特别是随着LED显示屏的发展，现有的单颗贴装的生产方式已逐渐向LED集成模组的贴装方式改变，如COB（chip On board）集成模组等。单个的LED集成模组上集成了多个LED灯珠，而探针的直径最小也约要0.15mm，当LED集成模组上集成了多个LED灯珠时，由于灯珠间的间距过小，如何对LED集成模组的引脚进行测试便成为了难题。特别是对于SMD LED，其引脚多只集中在底部，难以使用传统的测试机构进行测试。

因此，现有技术还有待于改进和发展。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于测试LED集成模组的测试机构及其分光机和编带机，旨在解决现有的测试机构难以检测LED集成模组的引脚的问题。

为解决上述问题，本发明的技术方案如下：

一种用于测试LED集成模组的测试机构，包括转盘机构和至少两个测试站，所述测试站环绕转盘机构侧边设置，所述测试站在垂直方向上设置有至少一组探针组，所述探针组与待测LED集成模组上的单个LED灯珠的所有引脚对应，用于测试单个LED灯珠的所有引脚，所有测试站的探针组的数量之和等于待测LED集成模组的LED灯珠的数量之和。

所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，所述测试站包括至少两组探针组，所述探针组与待测LED集成模组上处于对角处的LED灯珠的位置对应。

所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，所述测试站包括探针固定座，所述探针组垂直地设置在所述探针固定座上。

所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，所述测试站包括第一固定座和与所述第一固定座呈直角连接的第二固定座，所述第二固定座尾端转动连接有摆动板，所述摆动板另一端设置有固定架，所述探针组垂直地设置在固定架上，所述摆动板上还设有可驱动摆动板上下摆动的驱动装置以及复位装置。

所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，述转盘机构包括圆盘载具，所述圆盘载具上环绕设置有若干个固定位，所述固定位为镂空的十字架状。

所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，所述转盘机构包括转盘，所述转盘四周下端面设置有用于抓取固定电子元器件的若干个吸嘴。

所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，还包括第一定位机构，所述第一定位机构设置在所述测试站前，转盘机构的侧边位置上。

所述的用于测试LED集成模组的测试机构，其中，还包括第二定位机构，所述第二定位机构设置在所述测试站后，转盘机构的侧边位置上。