[发明专利]具突波保护的测试装置以及测试方法

说明书

一种具突波保护的测试装置以及测试方法。具突波保护的测试装置包含一开关、一感测电路以及一控制电路。开关耦接一电源供应电路。电源供应电路用以透过开关输出一供应电压予一待测装置。感测电路用以耦接待测装置。感测电路用以接收来自待测装置的一输入电压，且依据输入电压输出一感测信号。控制电路耦接感测电路、电源供应电路与开关。控制电路用以依据感测信号于一第一时间控制电源供应电路停止输出供应电压，且于一第二时间截止开关。借此，可避免突波对待测装置造成不佳的影响。

技术领域

本揭示中所述实施例内容是有关于一种测试技术，且特别是有关于一种具突波保护的测试装置以及测试方法。

背景技术

在集成电路(integrated chip；IC)的测试方面，通常会利用测试装置对待测装置(device under-test；DUT)进行相关测试。然而，若是在测试过程中有突波(spike)产生，突波将不利于集成电路。在一些情况下，突波甚至会损毁集成电路。由此可见，现有技术显然仍存在不便与缺陷，而有待改进。

发明内容

有鉴于此，本揭示内容提出一种测试装置以及测试方法，借以解决先前技术所述及的问题。

本揭示内容的一实施方式是关于一种具突波保护的测试装置。测试装置包含一开关、一感测电路以及一控制电路。开关耦接一电源供应电路。电源供应电路用以透过开关输出一供应电压予一待测装置。感测电路用以耦接待测装置。感测电路用以接收来自待测装置的一输入电压，且依据输入电压输出一感测信号。控制电路耦接感测电路、电源供应电路与开关。控制电路用以依据感测信号于一第一时间控制电源供应电路停止输出供应电压，且于一第二时间截止开关。

在一些实施例中，第二时间于时序上晚于第一时间。

在一些实施例中，感测电路包含一第一比较器。第一比较器用以耦接待测装置。第一比较器更用以比较输入电压与一第一参考电压。当输入电压小于第一参考电压时，控制电路依据感测信号截止开关。

在一些实施例中，感测电路还包含一第二比较器。第二比较器用以耦接待测装置。第二比较器更用以比较输入电压与一第二参考电压。当输入电压大于第二参考电压时，控制电路依据感测信号截止开关。

在一些实施例中，测试装置还包含一测试信号提供电路。测试信号提供电路耦接控制电路。测试信号提供电路用以提供一测试信号予待测装置。控制电路更用以依据感测信号，于一第三时间控制测试信号提供电路停止输出测试信号。第三时间于时序上早于第一时间。

本揭示内容的一实施方式是关于一种具突波保护的测试方法。测试方法包含：通过一测试装置的一电源供应电路透过一开关输出一供应电压予一待测装置；通过测试装置的一感测电路接收来自待测装置的一输入电压；通过感测电路依据输入电压输出一感测信号；以及通过测试装置的一控制电路依据感测信号于一第一时间控制电源供应电路停止输出供应电压，且于一第二时间截止开关。

在一些实施例中，第二时间于时序上晚于第一时间。

在一些实施例中，通过感测电路依据输入电压输出感测信号包含：通过感测电路的一第一比较器比较输入电压与一第一参考电压；以及当输入电压小于第一参考电压时，控制电路依据感测信号截止开关。

在一些实施例中，通过感测电路依据输入电压输出感测信号还包含：通过感测电路的一第二比较器比较输入电压与一第二参考电压；以及当输入电压大于第二参考电压时，控制电路依据感测信号截止开关。

在一些实施例中，测试方法还包含：通过控制电路依据感测信号，于一第三时间控制一测试信号提供电路停止输出一测试信号予待测装置。第三时间于时序上早于第一时间。

综上所述，测试装置控制电源供应电路在第一时间停止输出供应电压，且在第二时间将用以提供供应电压给待测装置的开关截止。借此，可避免突波对待测装置造成不佳的影响。

附图说明