[发明专利]一种算法自检电路及方法

说明书

本发明特别涉及一种算法自检电路及方法。该算法自检电路及方法，包括随机参数生成模块，参数存储模块，自检数据存储模块，自检流程控制模块和接口模块，所述接口模块连接有外部微控制器，所述参数存储模块和自检数据存储模块均连接到接口模块和算法单元；所述随机参数生成模块，参数存储模块，自检数据存储模块和接口模块均连接到所述自检流程控制模块，所述随机参数生成模块还与参数存储模块相连接。

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，特别涉及一种算法自检电路及方法。

背景技术

算法代表着用系统的方法描述解决问题的策略机制，是一系列解决问题的清晰指令，能够对一定规范的输入，在有限时间内获得所要求的输出。随着对性能要求的不断提升，算法的复杂度和多元化也呈上升态势。因此，算法适配前需要进行自检以检测当前条件下算法的正确性、完整性、安全性、匹配性等。

由于各种算法形式各异，需要的参数各不相同，移植到新环境后需要重新部署，算法自检也可能因条件的改变而需重新设计。这给算法的移植增添了阻力，会降低开发效率，还可能使算法达不到预期效果。当多个算法均需进行自检时，需分别进行识别与自检，增加系统额外资源。

基于上述情况，本发明提出了一种算法自检电路及方法。

发明内容

本发明为了弥补现有技术的缺陷，提供了一种简单高效的算法自检电路及方法。

本发明是通过如下技术方案实现的：

一种算法自检电路，其特征在于：包括随机参数生成模块，参数存储模块，自检数据存储模块，自检流程控制模块和接口模块，所述接口模块连接有外部微控制器，所述参数存储模块和自检数据存储模块均连接到接口模块和算法单元；所述随机参数生成模块，参数存储模块，自检数据存储模块和接口模块均连接到所述自检流程控制模块，所述随机参数生成模块还与参数存储模块相连接。

所述随机参数生成模块，用于生成算法单元自检所需的随机参数，并将生成的随机参数送入参数存储模块进行存储；

所述参数存储模块，用于存储随机参数，并将随机参数通过接口模块送入外部微控制器进行随机参数校验；同时存储由外部微控制器发来的固定参数，与随机参数一起送入算法单元；

所述自检数据存储模块，用于存储经算法单元完成自检计算后的自检结果数据及自检完成标志，并由外部微控制器通过接口单元进行读取；

所述自检流程控制模块用于实现算法自检流程控制；所述算法自检流程控制包括随机参数的生成与存储的控制、通知外部微控制器进行随机参数读取并开始接收固定参数的控制、算法单元读取随机参数和固定参数，开始进行算法自检的控制、算法结果返回外部微控制器的控制和多个待自检的算法单元的选择译码控制。

所述接口模块用于连接外部微控制器，实现多个算法单元的选择译码，并给出参数存储模块读写指令及地址信息；

所述外部微控制器用于给出算法自检起始信号，对随机参数进行校验，并对算法自检结果数据进行判定；

所述算法单元为待自检的某个或某几个算法模块。

所述算法自检电路的自检方法，其特征在于，包括以下步骤：

（1）接收到外部微控制器起始信号后，随机参数生成模块生成算法所需的随机参数，存入参数存储模块；

（2）随机参数经接口模块读入外部微控制器并进行随机参数校验；

（3）外部微控制器发送固定参数到参数存储模块；

（4）各算法单元读取相应固定参数对算法进行配置，将计算的得到算法自检结果数据和算法自检完成标志存入自检数据存储模块；

（5）外部微控制器读取算法自检结果数据并进行自检结果判断，完成算法自检过程。