[发明专利]对标测量装置、校准镜头与图卡相对位置的系统及方法

权利要求书

1.一种对标测量装置，其特征在于：包括调准机构(1)以及设置在调准机构(1)上的对标机构(2)，所述对标机构(2)包括基体(21)以及设置在基体(21)上的激光测距模块(22)和激光发射件(23)，所述激光测距模块(22)和激光发射件(23)的激光光束轴线均与基体(21)的对标端面(211)垂直，所述激光发射件(23)至少设置有三个；所述调准机构(1)被配置：调整并记录对标机构(2)在X轴、Y轴、Z轴的位置以及在其转动平面内的旋转角度；

所述基体呈三棱柱状，所述对标端面(211)为三棱柱状基体(21)的前端端面。

2.根据权利要求1所述的对标测量装置，其特征在于，还包括至少三个观察组件(24)，所述观察组件(24)包括目镜(241)、安装在目镜(241)上的三棱镜(242)以及设置在目镜(241)上并与三棱镜(242)配合的窥管(243)，所述窥管(243)垂直基体(21)的对标端面(211)。

3.根据权利要求2所述的对标测量装置，其特征在于，所述三棱镜(242)上设置有十字标。

4.根据权利要求2所述的对标测量装置，其特征在于，所述激光发射件(23)和观察组件(24)均设置有三个，所述激光发射件(23)分别设置在基体(21)的三个侧面上，所述观察组件(24)分别设置在基体(21)的三个侧棱处。

5.根据权利要求1所述的对标测量装置，其特征在于，所述激光测距模块(22)设置在基体(21)对标端面(211)的中心处。

6.根据权利要求1所述的对标测量装置，其特征在于，所述调准机构(1)包括基座(11)、设置在基座(11)上的平面调整尺(12)、固定在平面调整尺(12)上的高度调整尺(13)以及固定在高度调整尺(13)上的角度调整尺(14)，所述对标机构(2)通过基体(21)转动安装在角度调整尺(14)上。

7.根据权利要求6所述的对标测量装置，其特征在于，所述平面调整尺(12)包括设置在基座(11)上的X轴调整尺以及连接在X轴调整尺上的Y轴调整尺，所述Y轴调整尺上设有支架(15)，所述高度调整尺(13)安装在支架(15)上。

8.一种校准镜头与图卡相对位置的系统，其特征在于，包括权利要求1-7任一项所述的对标测量装置，所述对标测量装置的对标端面(211)的中心轴线与镜头平面的中心轴线重合，所述对标测量装置设置在图卡一侧用于校准镜头与图卡相对位置。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，还包括用于定位图卡的标板(3)，所述标板(3)上形成有用于标定激光发射件(23)激光光束的定位点以及用于标定观察组件(24)的十字标，所述定位点与激光发射件(23)数量相同且限定出的形状、大小相同，所述标板(3)的十字标与观察组件(24)的十字标数量相同且限定出的形状、大小相同。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述标板(3)与基体(21)的对标端面(211)的形状、大小相同。

11.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，还包括“L”型连接板(4)，所述对标测量装置通过基座(11)设置在“L”型连接板(4)的水平段上，所述“L”型连接板(4)的垂直段上设置有镜头固定座(41)，所述镜头固定座(41)用于固定镜头。