[发明专利]一种CMOS SOI射频开关电路有效

专利信息
申请号: 201710271983.6 申请日: 2017-04-24
公开(公告)号: CN108736866B 公开(公告)日: 2021-12-28
发明(设计)人: 朱雄辉;刘斌;周勇 申请(专利权)人: 深圳市中兴微电子技术有限公司
主分类号: H03K17/041 分类号: H03K17/041;H03K17/687
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 姜春咸;冯建基
地址: 518055 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 cmos soi 射频 开关电路
【权利要求书】:

1.一种CMOS SOI射频开关电路,其特征在于,包括:

主N型场效应管堆叠NFET Stack、辅助N型场效应管堆叠NFET Stack、P型场效应管堆叠PFET Stack、第一电容以及第二电容;所述主NFET Stack和所述辅助NFET Stack的栅极分别逐级与所述PFET Stack的漏源极连接;所述主NFET Stack一端连接辅助NFET Stack和第一电容,另一端接地;所述辅助NFET Stack一端连接主NFET Stack和第二电容,另一端接地;所述PFET Stack一端连接第二偏置电压,所述PFET Stack中各PFET管的漏源极与主NFET Stack和辅助NFET Stack的各NFET栅极逐级相连,为主NFET Stack和辅助NFET Stack提供栅极偏置电压;所述辅助NFET Stack的各NFET漏源极与PFET Stack的各PFET栅极逐级相连,为所述PFET Stack提供栅极偏置电压;

所述CMOS SOI射频开关电路的通断状态通过第一偏置电压和第二偏置电压控制。

2.根据权利要求1所述的CMOS SOI射频开关电路,其特征在于,

所述的主NFET Stack包括第一类级联NFET管、第一类电阻、第二类电阻和第三类电阻;

其中,所述第一类电阻一端接所述第一类级联NFET管的源极,另一端接所述第一类级联NFET管的漏极;所述第二类电阻一端接所述第一类级联NFET管的栅极,另一端接偏置电路;所述第三类电阻一端接所述第一类级联NFET管的体极,另一端连接着提供第一偏置电压和/或第二偏置电压的偏置电路。

3.根据权利要求1所述的CMOS SOI射频开关电路,其特征在于,

所述辅助NFET Stack包括第二类级联NFET管、第一类电阻、第二类电阻和第三类电阻;

其中,所述第一类电阻一端接所述第二类级联NFET管的源极,另一端接所述第二类级联NFET管的漏极;所述第二类电阻一端接所述第二类级联NFET管的栅极,另一端接偏置电路;所述第三类电阻一端接所述第二类级联NFET管的体极,另一端连接着提供第一偏置电压和/或第二偏置电压的偏置电路。

4.根据权利要求1所述的CMOS SOI射频开关电路,其特征在于,

所述PFET Stack包括第一类级联PFET管、第一类电阻、第二类电阻和第三类电阻;

其中,所述第一类电阻一端接所述第一类级联PFET管的源极,另一端接所述第一类级联PFET管的漏极;所述第二类电阻一端接所述第一类级联PFET管的栅极,另一端接偏置电路;所述第三类电阻一端接所述第一类级联PFET管的体极,另一端连接着提供第一偏置电压和/或第二偏置电压的偏置电路。

5.根据权利要求2、3或4所述的CMOS SOI射频开关电路,其特征在于,所述第一类电阻的大小为20KΩ。

6.根据权利要求2、3或4所述的CMOS SOI射频开关电路,其特征在于,所述第二类电阻和/或所述第三类电阻的大小为50至100KΩ。

7.根据权利要求2、3或4所述的CMOS SOI射频开关电路,其特征在于,所述第一偏置电压和第二偏置电压分别为高电平和低电平。

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