[发明专利]计量仪表电路板智能测试系统及智能测试方法

权利要求书

1.计量仪表电路板智能测试系统，其特征在于：包括，

烧写装置，用于将功能程序烧写入待测电路板；

显示性能测试装置，用于对待测电路板的显示性能进行测试；

功能测试装置，用于对待测电路板的功能进行测试；

标识装置，综合所述显示性能测试装置和功能测试装置的测试结果对待测电路板进行标识；

与烧写装置衔接的送板机构，送板机构用于将待测电路板送入烧写装置；

主控单元，用于控制烧写装置、显示性能测试装置、功能测试装置、标识装置和送板机构的运行。

2.如权利要求1所述的计量仪表电路板智能测试系统，其特征在于：所述烧写装置包括烧写控制板和编程器，所述编程器根据烧写控制板发送的烧写指令将功能程序烧写入待测电路板。

3.如权利要求1所述的计量仪表电路板智能测试系统，其特征在于：所述显示性能测试装置包括显示性能测试控制板和采集模块，所述待测电路板设有显示屏，所述待测电路板根据显示性能测试控制板发送的显示指令控制显示屏进行显示，所述采集模块采集显示屏的显示性能并上传至所述主控单元。

4.如权利要求3所述的计量仪表电路板智能测试系统，其特征在于：所述采集模块为相机，所述相机对显示屏的显示性能进行拍照并将图片数据上传至所述主控单元；或者所述采集模块为摄像头，所述摄像头对显示屏的显示性能进行拍摄并将视频数据上传至所述主控单元。

5.计量仪表电路板智能测试方法，其特征在于，通过计量仪表电路板智能测试系统进行测试，所述智能测试系统包括烧写装置、显示性能测试装置、功能测试装置、标识装置、主控单元和与烧写装置衔接的送板机构，所述主控单元用于控制烧写装置、显示性能测试装置、功能测试装置、标识装置和送板机构的运行，所述智能测试方法包括：

烧写工序，通过烧写装置将功能程序烧写入待测电路板；

测试工序，包括显示性能测试工序和功能测试工序,所述显示性能测试工序中通过显示性能测试装置测试待测电路板的显示性能,所述功能测试工序中通过功能测试装置测试待测电路板的功能,显示性能测试工序和功能测试工序的测试结果上传并存储于主控单元；

标识工序，标识装置根据主控单元存储的测试结果对待测电路板进行标识。

6.如权利要求5所述的计量仪表电路板智能测试方法，其特征在于：所述烧写装置包括烧写控制板和编程器，所述烧写工序的步骤包括:

主控单元通过烧写控制板向编程器发送烧写指令；

编程器根据烧写指令将程序写入待测电路板。

7.如权利要求5所述的计量仪表电路板智能测试方法，其特征在于：所述显示性能测试装置包括显示性能测试控制板和采集模块，所述待测电路板设有显示屏，所述显示性能测试工序包括:

主控单元通过显示性能测试控制板向待测电路板发送显示指令,所述待测电路板根据显示指令控制显示屏进行显示；

采集模块采集显示屏的显示性能并上传至主控单元；

主控单元将采集信息与预存信息进行对比，以判断待测电路板显示屏的显示性能是否合格。

8.如权利要求5所述的计量仪表电路板智能测试方法，其特征在于：所述功能测试装置包括功能测试控制板，所述功能测试工序包括:

主控单元通过功能测试控制板向待测电路板发送功能测试指令；

待测电路板根据功能测试指令逐项进行功能测试并将测试结果回复至主控单元；

主控单元将根据回复信息判断待测电路板各项功能是否合格。

9.如权利要求5所述的计量仪表电路板智能测试方法，其特征在于：所述测试工序中，先进行显示性能测试工序，再进行功能测试工序；或者，所述测试工序中，先进行功能测试工序，再进行显示性能测试工序。

10.如权利要求5至9之一所述的计量仪表电路板智能测试方法，其特征在于：所述功能测试工序对待测电路板的功能测试包括上电电流功能测试、电压功能测试、开阀功能测试、报警功能测试、计数功能测试、关阀功能测试、GPRS功能测试、红外功能测试、自检功能测试、静态电流功能测试、掉电功能测试和LED功能测试中的至少一种。