[发明专利]氧化锡电极推进量的获取方法和装置有效

专利信息
申请号: 201710284132.5 申请日: 2017-04-26
公开(公告)号: CN107129130B 公开(公告)日: 2019-08-23
发明(设计)人: 李青;穆美强;苏记华;赵玉乐;王光祥;韩军;魏猛 申请(专利权)人: 东旭(营口)光电显示有限公司;郑州旭飞光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司;东旭集团有限公司
主分类号: C03B5/16 分类号: C03B5/16;C03B5/02
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 魏嘉熹;南毅宁
地址: 115003 辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 氧化 电极 推进 获取 方法 装置
【说明书】:

本公开提出了一种氧化锡电极推进量的获取方法和装置,涉及玻璃制造领域,应用于玻璃窑炉,其特征在于,玻璃窑炉包括氧化锡电极和池壁砖,该方法包括:根据原材料中氧化锡的引入量、玻璃窑炉氧化锡的流出量、氧化锡的挥发量获取氧化锡电极的侵蚀量。根据氧化锆的流出量,获取池壁砖的侵蚀量。根据氧化锡电极的侵蚀量和池壁砖的侵蚀量,获取氧化锡电极相对于池壁砖的推进量。本公开能够使氧化锡电极与池壁砖保持平齐,提高玻璃窑炉的工作效率。

技术领域

本公开涉及玻璃制造领域,尤其涉及一种氧化锡电极推进量的获取方法和装置。

背景技术

在使用玻璃窑炉制造玻璃基板时,通过电极来加热来熔化原材料,而原材料中的氧化锡会对氧化锡电极暴露在窑炉中的部分造成侵蚀,因此需要推进氧化锡电极使玻璃窑炉能够正常工作。然而,玻璃窑炉的池壁砖在制造玻璃基板的过程中也会被侵蚀,使得推进后的氧化锡电极突出池壁砖。

发明内容

本公开提供一种氧化锡电极推进量的获取方法和装置,用以解决玻璃窑炉的池壁砖被侵蚀后,氧化锡电极推进量产生偏差的问题。

为了实现上述目的,根据本公开实施例的第一方面,提供一种氧化锡电极推进量的获取方法,应用于玻璃窑炉,其特征在于,所述玻璃窑炉包括氧化锡电极和池壁砖,所述方法包括:

根据原材料中氧化锡的引入量、所述玻璃窑炉氧化锡的流出量、氧化锡的挥发量获取所述氧化锡电极的侵蚀量;

根据所述氧化锆的流出量,获取所述池壁砖的侵蚀量;

根据所述氧化锡电极的侵蚀量和所述池壁砖的侵蚀量,获取所述氧化锡电极相对于所述池壁砖的推进量。

可选的,所述氧化锡电极为N组氧化锡电极,所述玻璃窑炉按照所述N组氧化锡电极划分为N个区,其中N为正整数;

所述根据原材料中氧化锡的引入量、所述玻璃窑炉氧化锡的流出量、氧化锡的挥发量获取所述氧化锡电极的侵蚀量,包括:

根据所述氧化锡的引入量、所述氧化锡的流出量、所述氧化锡的挥发量以及所述N个区中每个区的电极侵蚀比例系数,获取所述每个区的氧化锡电极侵蚀量;

所述根据所述氧化锆的流出量,获取所述池壁砖的侵蚀量,包括:

根据所述玻璃窑炉氧化锆的流出量和所述N个区中每个区的池壁砖侵蚀比例系数,获取所述每个区的池壁砖侵蚀量;

所述根据所述氧化锡电极的侵蚀量和所述池壁砖的侵蚀量,获取所述氧化锡电极相对于所述池壁砖的推进量,包括:

根据所述每个区的氧化锡电极侵蚀量和所述每个区的池壁砖侵蚀量,获取所述每个区的氧化锡电极相对于该区域的池壁砖的推进量。

可选的,所述根据所述氧化锡的引入量、所述氧化锡的流出量、所述氧化锡的挥发量以及所述N个区中每个区的电极侵蚀比例系数,获取所述每个区的氧化锡电极侵蚀量,包括:

根据所述氧化锡的引入量、所述氧化锡的流出量和所述氧化锡的挥发量,获取所述氧化锡电极组的总侵蚀量;

根据所述氧化锡电极组的总侵蚀量,以及所述N个区中每个区的电极侵蚀比例系数,获取所述每个区的氧化锡电极侵蚀量。

可选的,所述根据所述玻璃窑炉氧化锆的流出量和所述N个区中每个区的池壁砖侵蚀比例系数,获取所述每个区的池壁砖侵蚀量,包括:

根据所述氧化锆的流出量,获取所述池壁砖的总侵蚀量;

根据所述池壁砖的总侵蚀量,以及所述N个区中每个区的池壁砖侵蚀比例系数,获取所述每个区的池壁砖侵蚀量。

可选的,所述根据所述氧化锡的引入量、所述氧化锡的流出量和所述氧化锡的挥发量,获取所述氧化锡电极组的总侵蚀量,包括:

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