[发明专利]一种分析致密胶体老化机理的方法

权利要求书

1.一种分析致密胶体老化机理的方法，其特征在于：包括以下步骤：

(1)选定致密胶体作为研究对象，确定胶体粒子的个数N和观测时间间隔t_w，并通过粒子追踪试验方法获取老化过程中胶体粒子的运动轨迹；

(2)结合步骤(1)中的运动轨迹，计算N个胶体粒子的平均均方位移＜r²(t)＞；

其中＜r_i²(t)＞为第i个胶体粒子的均方位移，该均方位移通过第i个胶体粒子在不同时刻t的位置计算得到；

(3)采用扩展对数扩散率描述致密胶体粒子的均方位移；

＜r²(t)＞～(lnt^α)^λ

其中，0＜α≤1为扩展对数扩散率的阶数，直接刻画致密胶体老化过程偏离对数特慢过程的程度，λ＞0描述了致密胶体老化过程的特征速率，称为速率指数；

(4)结合步骤(2)中的均方位移＜r²(t)＞，计算步骤(3)中扩展对数扩散率中参数的值；

(5)验证步骤(3)中的扩展对数扩散率，并将满足扩展对数扩散率的老化过程称为扩展对数特慢老化过程。

2.根据权利要求1所述的分析致密胶体老化机理的方法，其特征在于：步骤(3)也可采用扩展对数扩散率的等价形式，即

＜r²(t)＞～(αlnt)^λ

其中，α为扩展对数扩散率的阶数，λ为速率指数。

3.根据权利要求1或2所述的分析致密胶体老化机理的方法，其特征在于：步骤(4)采用最小二乘法确定扩展对数扩散率的阶数α和速率指数λ。

4.根据权利要求1所述的分析致密胶体老化机理的方法，其特征在于：步骤(5)变换不同的观测时间间隔t_w，重复步骤(2)～(4)，确定该致密胶体老化过程的扩展对数扩散率。