[发明专利]引入机器视觉技术的材料微波参数精确测试系统及方法在审
申请号: | 201710284524.1 | 申请日: | 2017-04-25 |
公开(公告)号: | CN107085149A | 公开(公告)日: | 2017-08-22 |
发明(设计)人: | 高冲;李恩;余承勇;张云鹏;王帅;张俊武;何凤梅 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G01R27/02;G01R33/12 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙)51232 | 代理人: | 敖欢,葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 引入 机器 视觉 技术 材料 微波 参数 精确 测试 系统 方法 | ||
1.一种引入机器视觉技术的材料微波参数精确测试系统,其特征在于:包括图像采集处理子系统和材料微波参数测试子系统;
所述图像采集处理子系统包括计算机(2)、多个微型摄像机(4a-4d),每个微型摄像机分别通过数据传输线(7)连接到计算机(2),所述的多个微型摄像机分别固定安装在测试夹具(3)上;
所述材料微波参数测试子系统包括网络分析仪(1)、计算机(2)、测试夹具(3);网络分析仪(1)和计算机(2)通过网线(8)连接,网络分析仪(1)的port1(1a)通过微波传输线(6a)连接测试夹具(3)的第一端口(3a),网络分析仪(1)的port2(1b)通过微波传输线(6b)连接夹具(3)的第二端口(3b)。
2.根据权利要求1所述的引入机器视觉技术的材料微波参数精确测试系统,其特征在于:每个摄像头在夹具上均匀排列,每个摄像头到待测样品的距离相等。
3.根据权利要求1所述的引入机器视觉技术的材料微波参数精确测试系统,其特征在于:还包括待测样品上方的LED光源(5)。
4.根据权利要求1所述的引入机器视觉技术的材料微波参数精确测试系统,其特征在于:所述摄像机的摄像头直径为2mm。
5.利用权利要求1至4任意一种系统进行材料微波参数精确测试的方法,其特征在于:首先对每个微型摄像机进行标定,求解各个子坐标系与自定义全局坐标系之间的旋转矩阵和位移向量,通过多个摄像头获取样品图像数据,利用每个坐标系与全局坐标系之间的旋转矩阵和位移向量,计算出样品三维坐标以及样品材料在测试夹具中的真实位置坐标和形状变化量,并测试算法中的函数系数或求解域进行修正,进一步提高测试精度。
6.根据权利要求5所述的进行材料微波参数精确测试的方法,其特征在于包括如下步骤:
1)连接测试系统:将微波传输线(6a)连接在网络分析仪(1)的port1(1a)与测试夹具(3)的第一端口(3a)之间、将微波传输线(6b)连接在网络分析仪(1)的port2(1b)与测试夹具(3)的第二端口(3b)之间,连接网络分析仪和计算机,数据传输线(7)分别连接在微型摄像头(4a-4d)上;
2)打开计算机(2)和网络分析仪(1),测量待测样品(9)尺寸,并记录;
3)打开测试软件,测试未放置样品时的校准数据;
4)在未放置样品的情况下,对微型摄像机(4a-4d)进行标定;
5)将待测样品(9)放置在测试夹具(3)中,并通过网络分析仪和测试软件,获取放置样品后的测试数据;
6)通过微型摄像机(4a-4d)获取样品图像数据,并利用图像处理软件计算出样品的三维坐标和形状变化量;
7)将图像处理数据导入测试软件,并输入样品尺寸,结合之前测试的校准数据和放置样品后的测试数据,计算出样品材料在不同频率点下的微波参数。
7.根据权利要求6所述的进行材料微波参数精确测试的方法,其特征在于:若测试结果不准确,则重复步骤(3)-(7)。
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