[发明专利]图像处理方法和图像处理装置有效
申请号: | 201710288252.2 | 申请日: | 2017-04-27 |
公开(公告)号: | CN107341771B | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 川端优;中野贵司;夏秋和弘;泷本贵博;山崎信夫;本田大辅;玉井幸夫 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳;杨艺 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 处理 方法 装置 | ||
1.一种图像处理方法,其特征在于,包括:
亮度值信息获取步骤,利用以与主轴方向相互不同的多个偏振元件对应的多个像素为一个像素单元并将所述像素单元二维地排列的摄像元件,从被摄体获取该摄像元件的作为该被摄体的有效的辐射亮度值的有效辐射亮度值;和
图像生成步骤,使用从所述被摄体获取的有效辐射亮度值,生成包含所述被摄体的像的拍摄图像,
在所述图像生成步骤中,按与所述被摄体的至少一部分对应的每个所述像素单元,从该像素单元中包含的多个像素的有效辐射亮度值中去除所述被摄体的表面的正反射光成分的至少一部分而得到亮度值,生成作为具有该亮度值的单位区域的集合的所述拍摄图像,
所述图像处理方法还包括:
映像判定步骤,判定在所述亮度值信息获取步骤中获取的所述有效辐射亮度值中包含的、所述被摄体的表面的正反射光成分是否为规定的强度以下;和
亮度值信息再获取步骤,在所述映像判定步骤中判定所述被摄体的表面的正反射光成分为规定的强度以下的情况下,在对所述被摄体照射偏振光的状态下获取所述有效辐射亮度值,
在执行所述亮度值信息再获取步骤的情况下,在所述图像生成步骤中,去除所述亮度值信息再获取步骤中获取的所述有效辐射亮度值中包含的、所述被摄体的表面的正反射光成分的至少一部分。
2.如权利要求1所述的图像处理方法,其特征在于:
在所述图像生成步骤中,
基于所述像素单元各自含有的所述多个像素的有效辐射亮度值,确定该像素单元的有效辐射亮度值的最大值和最小值,
使用所确定的所述最大值和所述最小值以及与该像素单元对应的所述被摄体的表面的、根据菲涅耳定律计算的P偏振成分的反射率与S偏振成分的反射率的比率,计算所述像素单元各自的扩散反射光成分,将所述扩散反射光成分决定为所述单位区域各自的亮度值。
3.如权利要求1所述的图像处理方法,其特征在于:
在所述图像生成步骤中,
基于所述像素单元各自含有的所述多个像素的有效辐射亮度值,确定该像素单元的有效辐射亮度值的最大值和最小值,
通过从所确定的所述最大值减去所述最小值来计算第1正反射光成分,
使用计算出的所述第1正反射光成分以及与该像素单元对应的所述被摄体的表面的、根据菲涅耳定律计算的P偏振成分的反射率与S偏振成分的反射率的比率,计算第2正反射光成分,
将从所确定的所述最大值减去所述第1正反射光成分和第2正反射光成分而得到的值决定为所述单位区域各自的亮度值。
4.一种图像处理方法,其特征在于,包括:
亮度值信息获取步骤,利用以与主轴方向相互不同的多个偏振元件对应的多个像素为一个像素单元并将所述像素单元二维地排列的摄像元件,从被摄体获取该摄像元件的作为该被摄体的有效的辐射亮度值的有效辐射亮度值;和
图像生成步骤,使用从所述被摄体获取的有效辐射亮度值,生成包含所述被摄体的像的拍摄图像,
在所述图像生成步骤中,按与所述被摄体的至少一部分对应的每个所述像素单元,从该像素单元中包含的多个像素的有效辐射亮度值中去除所述被摄体的表面的正反射光成分的至少一部分而得到亮度值,生成作为具有该亮度值的单位区域的集合的所述拍摄图像,
在所述图像生成步骤中,将所述像素单元各自含有的所述多个像素的有效辐射亮度值中的最小值决定为所述单位区域各自的亮度值。
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