[发明专利]一种机电产品符号化质量特性的分析与故障原因追溯方法有效

专利信息
申请号: 201710295266.7 申请日: 2017-04-28
公开(公告)号: CN107122907B 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 李贺;黄洪钟;李彦锋;郑晓娟;彭兆春;米金华;黄鹏;郭骏宇;黄承赓 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q50/04;G06N3/12
代理公司: 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 代理人: 王伟
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 机电产品 符号化 质量 特性 分析 故障 原因 追溯 方法
【权利要求书】:

1.一种机电产品符号化质量特性的分析与故障原因追溯方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、分析产品质量形成的影响因素,建立质量特性基因模型;所述步骤S1具体为:

建立质量特性基因影响因素链,包括质量特性基因属性层与质量特性基因属性展开层;所述质量特性基因属性层包括操作者、机器、原材料、加工工艺、环境和测量信息;所述质量特性基因属性展开层包括各细化的质量特性基因属性;

S2、根据质量特性基因模型,采用二进制数据对其进行编码;将质量信息转录,构建二进制基因模型,并将该二进制基因模型复制到质量特性基因库中;包括以下分步骤:

S21、基于分析人员对故障原因的分析,给出故障原因隶属于质量特性基因属性展开层中各因素的概率性评价数据;

S22、由历史故障数据的统计值或专家意见,给出质量特性基因属性层相对权值,并进行归一化处理;

S23、依据重要性阈值将分析人员的概率性评价数据符号化处理,大于阈值则表示重要,反之表示非重要;

S24、基于质量特性基因影响因素重要度符号化结果,依据质量特性基因双层结构,按照先质量特性基因属性层,后质量特性基因属性展开层的顺序,将符号化结果顺序编排,得出二进制基因序列,并将其复制到质量特性基因库中;

S3、在二进制基因模型的基础上,进行质量特性基因相似性分析,找出待分析产品的质量特性基因与基因库中故障产品基因的相似性量化结果,为质量特性基因异常模式诊断提供必要的信息输入;

S4、基于相似性分析结果,开展质量特性故障基因的影响因素诊断分析工作,找出导致质量特性故障基因影响因素的量化结果,深究故障根源,为确定质量控制策略提供依据。

2.根据权利要求1所述的机电产品符号化质量特性的分析与故障原因追溯方法,其特征在于,所述步骤S3包括以下分步骤:

S31、基于特定产品故障分析人员评价数据的质量特性基因属性相似性比较分析,给出特定时刻观测基因与基因库中故障基因于指定属性上的相似性;

S32、基于多个产品故障分析人员评价数据的质量特性基因属性相似性比较分析,给出特定时刻观测基因与基因库中故障基因于指定属性上的相似性。

3.根据权利要求2所述的机电产品符号化质量特性的分析与故障原因追溯方法,其特征在于,所述步骤S4包括以下分步骤:

S41、对单一质量特性影响因素进行诊断分析;

S42、对质量特性影响因素属性进行诊断分析。

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