[发明专利]一种检测透明物体缺陷的装置

说明书

技术领域

本发明涉及检测装置技术领域，尤其涉及一种检测透明物体缺陷的装置。

背景技术

随着科学技术的进步，电子产品的应用越来越广泛。在电子产品的生产制造过程中，对电子产品的显示屏例如：手机、电脑，电视等缺陷的检测也越来越重要。由于显示屏为透明的，通常情况下，对显示屏缺陷的检测是在光照条件下通过人眼观测，从而找到其缺陷，这种检测方式效率低，漏检率高，人工成本高；还有一种方式就是通过摄像头捕获透明物体在光照和预置颜色的背景下的图像，从而找出透明物体上的缺陷，但该检测方式由于预置的颜色背景的设置，使得摄像头获得的图像，无法判断缺陷是透明物体上的还是预置的颜色背景上的，容易造成缺陷的误判。这种方式，透明物体需与预置背景相对静止，而固定透明物体方式较为复杂，如果采用传统的真空吸附，则背景对检测的影响很大，如果对透明物体边缘固定，则会影响对边缘的检测，且增加了损伤被检物体的风险。而且这种方式下相机和光源、透明物体需要在复杂的运动系统带动下完成一系列运动，才能完成对整个透明物体表明的检测，如果使用丝杠伺服电机，则速度不够，且成本较高，如果使用直线电机加光栅尺，则成本更高。

发明内容

本发明的目的在于提出一种检测透明物体缺陷的装置，解决了现有检测透明物体缺陷装置预置颜色背景对缺陷检测的影响以及成本较高的问题。

本发明的另一个目的在于提出一种检测透明物体缺陷的装置，解决了现有人工检测透明物体的缺陷，效率低，漏检率高，人工成本高的问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种检测透明物体缺陷的装置，包括光源和图像采集装置，所述光源向透明物体发射光线，形成反射光斑，所述图像采集装置获取所述透明物体的图像，所述图像采集装置的捕获范围至少部分包括所述反射光斑周围被所述光源照亮的区域，所述透明物体置于具有低凹区的平台上，所述低凹区低于放置所述透明物体的平台的平面，所述光源和所述图像采集装置设置在所述透明物体的一侧，所述低凹区设置在所述透明物体的另一侧，所述图像采集装置经所述捕获范围向远离所述图像采集装置一侧投射的区域至少部分落在所述低凹区内。

本发明提出的检测透明物体缺陷的装置，将透明物体置于平台的低凹区上方，所述图像采集装置经所述捕获范围向远离所述图像采集装置一侧投射的区域至少部分落在所述低凹区内，避免图像采集装置所采集的图像中有其他物体对透明物体上缺陷的干扰，影响透明物体上缺陷的检测，且该装置成本较低。

作为上述检测透明物体缺陷的装置的一种优选方案，所述平台为带动所述透明物体移动的平台，所述平台包括至少一组传动装置，每组传动装置包括至少一个传动机构，所述透明物体置于所述传动机构上，所述低凹区设置于传动装置之间和/或传动机构两侧，所述传动机构带动所述透明物体移动经过所述低凹区。

作为上述检测透明物体缺陷的装置的一种优选方案，所述传动机构为滚轮传动带传动机构和/或气浮平台传动机构，所述传动装置包括至少两个相对设置的滚轮传送带传动机构和/或至少一个气浮平台传动机构。

作为上述检测透明物体缺陷的装置的一种优选方案，设置在所述传动装置之间的低凹区为第一低凹区，设置在传动机构两侧的低凹区为第二低凹区。

作为上述检测透明物体缺陷的装置的一种优选方案，所述第一低凹区沿平行于平台的方向的截面为长条形，所述平台包括至少一个所述第一低凹区，所述第一低凹区沿平行于平台的方向的截面的长度方向为第一方向，所述第一方向与透明物体的移动方向成一定角度，每个所述第一低凹区上方均设有图像采集装置和光源。

作为上述检测透明物体缺陷的装置的一种优选方案，所述平台包括至少一个所述第二低凹区，每个所述第二低凹区上方均设有图像采集装置和光源。

作为上述检测透明物体缺陷的装置的一种优选方案，所述平台包括至少两组所述传动装置，相邻两组所述传动装置的第二低凹区交错设置。

作为上述检测透明物体缺陷的装置的一种优选方案，所述平台设有至少一个进料端和至少一个出料端，所述进料端和出料端设置于所述平台的同侧或异侧。

作为上述检测透明物体缺陷的装置的一种优选方案，所述图像采集装置为线阵图像采集装置，所述线阵图像采集装置的捕获范围为长方形，所述线阵图形采集装置的捕获范围包括至少一行像素。

作为上述检测透明物体缺陷的装置的一种优选方案，所述第一方向与图像采集装置的捕获范围平行设置。