[发明专利]一种基于天线阵列增广协方差矩阵的射频干扰源定位方法有效

专利信息
申请号: 201710296300.2 申请日: 2017-04-28
公开(公告)号: CN107167765B 公开(公告)日: 2020-02-14
发明(设计)人: 贺锋;胡飞;李军;冯驰茗 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01S5/02 分类号: G01S5/02
代理公司: 42201 华中科技大学专利中心 代理人: 赵伟;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 天线阵列 射频干扰源 协方差矩阵 填充 虚拟 定位性能 构建 分辨 天线 傅里叶变换 可见度函数 空间谱估计 亮温 算法 图像 清晰
【权利要求书】:

1.一种基于天线阵列增广协方差矩阵的射频干扰源定位方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)根据天线阵列的UV分布UA构造虚拟填充天线阵列,根据以下准则构建虚拟填充天线阵列:

(a)虚拟填充天线阵列的阵元数M’范围为[M,M(M-1)/2];M是指天线阵列中单元天线的个数;

(b)虚拟填充天线阵列的UV分布中的所有元素或大部分元素可从天线阵列的UV分布UA中找到;

(2)根据天线阵列的可见度函数对虚拟填充天线阵列进行可见度赋值,获取虚拟填充天线阵列各天线对的UV点对应的可见度;

(3)根据虚拟填充天线阵列的各天线对的UV点对应的可见度,构造增广协方差矩阵;

(4)基于所构建的增广协方差矩阵,采用空间谱估计方法进行射频干扰源定位;

天线阵列的UV分布是指由天线阵列所有的UV点形成的一个序列;所述UV点是指将天线阵列里的天线i与天线j的坐标相减并作归一化处理所得到的数值;

所述增广协方差矩阵如下:

其中,是指虚拟填充天线阵列的天线对(1,1)所对应的可见度;是指虚拟填充天线阵列的天线对(1,2)所对应的可见度,是指虚拟填充天线阵列的天线对(1,M’)所对应的可见度,是指虚拟填充天线阵列天线对(M’,M’)所对应的可见度。

2.如权利要求1所述的射频干扰源定位方法,其特征在于,所述步骤(1)包括如下子步骤:

(1.1)将天线阵列中的天线i与天线j的坐标相减并作归一化处理,得到UV点

其中,(xi,yi)是天线i在直角坐标系中的坐标,(xj,yj)是天线j在直角坐标系中的坐标;λ表示天线阵列接收的电磁波的波长;

(1.2)将由天线阵列所有的UV点形成的序列作为天线阵列的UV分布UA

3.如权利要求1或2所述的射频干扰源定位方法,其特征在于,所述步骤(2)包括如下子步骤:

(2.1)对天线阵列中天线i与天线j接收的电磁波信号做相关平均,得到可见度

其中,*表示取共轭,E[·]表示对时间取平均;bi(t)表示天线i接收的电磁波信号,bj(t)表示天线j接收的电磁波信号;

(2.2)将天线阵列中的天线i与天线j组成一个天线对;根据所述天线阵列各天线对的UV点(uij,vij)和可见度Vij,构建天线阵列的可见度函数V(uij,vij)=Vij

(2.3)将天线阵列的UV分布UA里的UV点所对应的可见度取平均,

获得天线对的平均可见度

其中,i1、i2、…、iN、j1、j2、…、jN分别表示天线阵列第i1、i2、…、iN、j1、j2、…、jN根天线,N≤M(M-1)/2且满足

(2.4)根据下式对虚拟填充天线阵列的可见度赋值:

其中,i'、j'表示虚拟填充天线阵列的第i'、j'根天线,i、j表示天线阵列的第i、j根天线,为天线对的平均可见度将虚拟填充天线阵列的UV分布分成两部分,第一部分的UV点数据能从天线阵列的UV分布UA中找到,用UB-Ⅰ表示该部分的UV分布;第二部分的UV点数据不能从天线阵列的UV分布UA中找到,用UB-II表示该部分的UV分布。

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