[发明专利]热敏电阻调阻方法有效
申请号: | 201710299873.0 | 申请日: | 2017-04-27 |
公开(公告)号: | CN107134331B | 公开(公告)日: | 2019-08-16 |
发明(设计)人: | 陈宏伟;刘剑锋;张继华;沓世我;罗俊尧;朱佩;廖进福 | 申请(专利权)人: | 广东风华高新科技股份有限公司;风华研究院(广州)有限公司;电子科技大学 |
主分类号: | H01C7/04 | 分类号: | H01C7/04 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 吴平 |
地址: | 526020 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 热敏电阻 方法 | ||
本发明涉及一种热敏电阻的调阻方法,包括:获取多种预设图形中的每一种预设图形对应的电阻增加率范围;所述预设图形用于形成在待调阻的片阻上,增加所述待调阻的片阻的阻值;测量待调阻的片阻的实际阻值,并计算出达到目标阻值所需要的增加率;判断所述所需要的增加率所处于的电阻增加率范围,并获取对应的预设图形;将获取到的预设图形应用于待调阻的片阻进行修调。上述方法可应用于热敏电阻的调阻,不会因为激光产生热量导致调阻误差。
技术领域
本发明涉及电阻制造过程中的调阻,特别是涉及一种热敏电阻调阻方法。
背景技术
负温度系数(Negative Temperature Coefficient,NTC)电阻、正温度系数(Positive Temperature Coefficient,PTC)电阻等陶瓷热敏电阻,其阻值会随着温度升高而呈指数关系降低或者升高。热敏电阻由于测温精度高、可靠性好等优势广泛应用于温度测量和控制领域。然而,在薄膜或者厚膜制备过程中,不可避免存在溅射薄膜不均匀、光刻图形有误差、丝网印刷厚度不一致等问题,导致生产出的片式热敏电阻,其额定零功率阻值R25与设计值存在较大出入,进而使产品良品率降低。
因此在电阻的生产过程中,需要对电阻的阻值进行修调,使其符合预期值。激光修调以其方向性好、定位精度高、切割线条窄等众多优势已经广泛应用于片式电阻的工业生产,是提高产品良品率的有效方式。在进行激光修调时,高能脉冲激光能够将作用处的薄膜材料瞬间气化,使电阻体导电面积减小,达到增大电阻的目的。
在传统的片式电阻批量生产中,调阻过程一般采用红外激光调阻机完成。调阻机首先将电阻体基片移至待调阻区域,随后探针台与电阻体电极接触,激光器通过激光束定位系统按照计算机程序设定的路径实施调阻,测量系统通过探针台将阻值实时地反馈给计算机。当待调电阻达到目标阻值时激光器立即停止修调。换句话说,激光调阻机采用追踪式阻值测量系统,通过实时测量修调中变化的电阻值,当其达到目标阻值误差允许范围内即停止修调。这种方法只适用于温度系数为零(即阻值不随温度产生非常大的变化)的电阻材料,因为激光修调时会产生热量。而在对热敏电阻采用追踪式阻值测量时,这些不可忽略的热量导致热敏电阻体温度上升进而阻值发生变化,因而,追踪式测量系统对热敏电阻修调没有意义。
发明内容
基于此,有必要提供一种针对热敏电阻的调阻方法。
一种热敏电阻的调阻方法,包括:
获取多种预设图形中的每一种预设图形对应的电阻增加率范围;所述预设图形用于形成在待调阻的片阻上,增加所述待调阻的片阻的阻值;
测量待调阻的片阻的实际阻值,并计算出达到目标阻值所需要的增加率;
判断所述所需要的增加率所处于的电阻增加率范围,并获取对应的预设图形;
将获取到的预设图形应用于待调阻的片阻进行修调。
在其中一个实施例中,依次对多个片阻进行调阻:在将获取到的预设图形应用于当前待调阻的片阻进行修调的步骤之后,测量下一个待调阻的片阻的实际阻值。
在其中一个实施例中,依次对多个片阻进行调阻:在将获取到的预设图形应用于当前待调阻的片阻进行修调的同时,测量下一个待调阻的片阻的实际阻值。
在其中一个实施例中,对修调后不符合预期的热敏电阻根据再次确定的预设图形进行修调。
在其中一个实施例中,所述获取电阻增加率范围的步骤包括:
对每种预设图形,将其应用于修调多个不同的片阻,获取多个不同的片阻在应用预设图形修调前后的电阻增加率;
根据所获得的多个电阻增加率确定每种预设图形对应的电阻增加率范围。
在其中一个实施例中,通过筛选使所有的电阻增加率范围互不重叠并相互接续。
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