[发明专利]一种发光二极管的外延片及其制备方法有效
申请号: | 201710299881.5 | 申请日: | 2017-04-27 |
公开(公告)号: | CN107293622B | 公开(公告)日: | 2020-01-10 |
发明(设计)人: | 张宇;马欢;肖云飞 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L33/02 | 分类号: | H01L33/02;H01L33/32;H01L33/00 |
代理公司: | 11138 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 215600 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 发光二极管 外延 及其 制备 方法 | ||
1.一种发光二极管的外延片,其特征在于,所述外延片包括衬底和依次层叠在所述衬底上的缓冲层、u型GaN层、n型GaN层、发光层、电子阻挡层、p型GaN层、Mg3N2层和透明导电层,所述Mg3N2层掺杂有Si;所述Mg3N2层中Si的掺杂浓度为1E17cm-3~5E17cm-3;p型GaN层中,Mg的掺杂浓度为5E18cm-3~1E19cm-3;
生长Mg3N2层时,控制NH3的流量为50000~70000sccm,三甲基镓的流量为10~20sccm,H2的流量为100~130L/min,二茂镁的流量为2000~4000sccm,SiH4的流量为1~3sccm。
2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述Mg3N2层的厚度为5~10nm。
3.根据权利要求1或2所述的外延片,其特征在于,所述p型GaN层中Mg的掺杂浓度为5E18cm-3~1E19cm-3。
4.根据权利要求1或2所述的外延片,其特征在于,所述p型GaN层的厚度为50~100nm。
5.一种发光二极管的外延片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:
提供一衬底;
在所述衬底上依次生长缓冲层、u型GaN层、n型GaN层、发光层、电子阻挡层、p型GaN层、Mg3N2层和透明导电层,所述Mg3N2层掺杂有Si;所述Mg3N2层中Si的掺杂浓度为1E17cm-3~5E17cm-3;p型GaN层中,Mg的掺杂浓度为5E18cm-3~1E19cm-3;
生长Mg3N2层时,控制NH3的流量为50000~70000sccm,三甲基镓的流量为10~20sccm,H2的流量为100~130L/min,二茂镁的流量为2000~4000sccm,SiH4的流量为1~3sccm。
6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述Mg3N2层的生长温度为900℃~1000℃。
7.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述Mg3N2层的生长压力为100~300mbar。
8.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述Mg3N2层的生长厚度为5~10nm。
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