[发明专利]实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架

说明书

技术领域

本发明涉及一种实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架。

背景技术

在某些实验开展前或者实验结束后，通常需要对实验样品进行拍摄记录，留存试样宏观形貌照片，以便于进行对照观察，分析前后变化等相关问题。

在拍摄过程中，相机与试样的相对位置常常不能达到一致统一，会导致拍摄图像中试样的相对大小与构图位置有所偏差。当试样数量较多时，这种偏差问题会更加突出，将显著增大图像处理的工作量。

同时，试样的背景以及光线强度一般受到周围环境的约束，在不同时间段内试样所处环境可能有所差异，这对拍摄结果影响较大，直接关系到对比效果与图像的美观性。

鉴于上述，本设计人积极加以研究创新，以期创设一种实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架，使其更具有产业上的利用价值。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明的目的是为实验室找到一种可准确统一相机镜头与试样的相对位置的实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架。

本发明实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架，至少包括：支架主体、磁吸遮光板、可控底板，其中，所述支架主体包括相机支撑顶棚以及连接在所述相机支撑顶棚上的架体支撑三级伸缩支撑杆；所述支撑顶棚上表面设有相机放置面，所述相机放置面上设有相机镜头孔，所述相机放置面上设有相机夹具，所述相机夹具的磁吸面通过电磁连接在所述相机放置面上；所述支撑顶棚上还设有支架磁吸卡槽；所述可控底板上设有底板磁吸卡槽支撑杆位、底板磁吸卡槽遮光板位，所述架体支撑三级伸缩支撑杆的磁力面通过电磁连接在所述底板磁吸卡槽支撑杆位上，所述磁吸遮光板的两个磁力面分别通过电磁连接在支架磁吸卡槽上和底板磁吸卡槽遮光板位上；在所述可控底板上，所述磁吸遮光板围起来的区域内形成试样放置范围区，所述试样范围区内设有底板磁吸卡槽试样卡托位，试样卡托通过电磁连接在所述底板磁吸卡槽试样卡托位上。

进一步地，所述可控底板上连接有若干底板调平支撑杆，各所述底板调平支撑杆的端部分别连接有防震底片。

进一步地，所述支撑顶棚上设有调节拍摄光强的顶棚光源。

进一步地，所述试样范围区内设有背景面板，所述背景面板为显示与试验相匹配的图像的显示屏，所述显示屏连接用于控制背景面板显示图像、用于控制底板磁吸卡槽试样卡托位磁力大小的底板控制系统，所述底板控制系统连接底板电源开关、底板复位键、底板触控面板，所述底板触控面板为触摸式显示屏；

还包括：用于控制支架磁吸卡槽的磁力强弱的支架控制系统，所述支架控制系统连接支架电源开关、支架复位键、支架触控面板、支架充电接口，所述支架触控面板为触摸式显示屏。

进一步地，所述试样夹具包括连接可控底板的连接部以及用于承载试样的承载部，所述连接部设所述承载部为夹具或容置试管的容置槽。

进一步地，所述相机夹具包括相机主受力夹板、次受力夹板，所述主受力夹板的面积大于次受力夹板。

进一步地，所述磁吸遮光板覆有遮光涂料的一侧作为内壁。

与现有技术相比，本发明实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架具有以下优点：

1、本发明通过该支架主体可准确统一相机镜头与试样的垂直相对位置，并且架体三级伸缩支撑杆可进行三级变化，以适应不同空间距离的需求，通用性强，应用范围广。

2、本发明通过底板控制系统可调节背景面板的画面，以控制变化试样的拍摄背景，试样放置范围区，背景光强度，背景颜色以及添加标尺等，并可以实时精准调整，具有较大的灵活性。

3、本发明通过支架控制系统可调节顶棚光源强度及角度，补充光照度，并结合内覆遮光涂料的磁吸遮光板，可使拍摄环境不受周围环境影响，稳定如一。

4、本发明通过底板控制系统及支架控制系统可控制结构部件的安装与拆卸，部件间通过磁力维持结构稳固，操作方便，可控性强。

5、本发明通过磁力相机夹具夹持相机，固定相机位置，保证相机稳定，并适应不同类型相机的结构尺寸。

6、本发明通过配置不同的试样卡托，可稳固不规则试样及试管器皿的位置，多角度灵活拍摄，满足实验需求的全面性。

7、本发明支架整体可任意移动，可直立或水平放置，多角度适用，结构简单，使用方便。

附图说明

图1为本发明实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架的整体结构零件爆炸解析示意图。

图2为本发明实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架的可控底板示图。

图3为本发明实验室用试样宏观形貌拍摄可调节支架的支架主体外部示图。