[发明专利]电阻测试装置

说明书

本发明涉及一种电阻测试装置，包括底座、支承部、固定机构及测试机构，支承部设置于底座，固定机构包括升降组件、固定部及压持部，升降组件用于驱动固定部沿垂直于支承面的方向远离或靠近支承面，压持部用于压紧产品；测试机构包括探针固定座、第一驱动件及装设于探针固定座的至少两个探针，探针固定座活动连接于固定部朝向支承面的一侧，至少两个探针相对支承面呈不同方向延伸，第一驱动件设置于固定部远离支承面的另一侧，并可驱动与其相对应的探针固定座沿预设方向移动。相比传统的电阻测试装置，可同时对多个面的检测位检测，节省了人力及时间，提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及电阻测试技术领域，特别是涉及一种电阻测试装置。

背景技术

在手机、平板电脑等电子产品中框制造过程中，为了便于后续安装电路板及其他电子元器件，通常需沿中框的内侧壁设置金属件，以便于将电路板及电子元器件安装固定在金属件上。同时，为了起到接地保护作用，采用电路板和/或电子元器件与金属薄板导电连接的方式，但是连接处的电阻率的变化也成为影响电子产品性能参数的重要因素。因此，在将金属件与中框连接后，需要检测金属件上若干个预设点之间的电阻率，便于检测不符合相应要求的不良品。而由于测试点分布于中框内腔的水平面及侧面上，传统的测试装置因结构受限需要分别进行测试，造成时间和人力的浪费，影响测试效率。

发明内容

基于此，有必要针对传统的电阻测试装置对平面和侧面需要分开测试，影响测试效率的问题，提供一种可同时多点位测试的电阻测试装置。

一种电阻测试装置，包括：

底座；

支承部，设置于所述底座，具有用于支承产品的支承面；

固定机构，包括升降组件、固定部及压持部，所述升降组件设置于所述底座，所述固定部设置于所述升降组件的一侧，且位于所述支承面上方，所述升降组件用于驱动所述固定部沿垂直于所述支承面的方向远离或靠近所述支承面，所述压持部设置于所述固定部朝向所述支承面的一侧，用于在所述固定部靠近所述支承面移动到达预设位置时压紧产品；

测试机构，包括探针固定座、第一驱动件及装设于所述探针固定座的至少两个探针，所述探针固定座活动连接于所述固定部朝向所述支承面的一侧，至少两个所述探针相对所述支承面呈不同方向延伸，所述第一驱动件设置于所述固定部远离所述支承面的另一侧，并可驱动与其相对应的所述探针固定座沿预设方向移动。

上述电阻测试装置，固定部随升降组件下降，而使压持部压紧产品，且使探针固定座在竖向到达一定的位置，第一驱动件驱动探针固定座沿预设方向移动到达相应的位置，探针根据产品的检测位的不同而呈不同方向延伸，使探针可到达相应的检测位，从而完整检测。相比传统的电阻测试装置，可同时对多个面的检测位检测，节省了人力及时间，提高了测试效率。

在其中一实施例中，所述测试机构包括至少一个测试组件，每组所述测试组件包括一个所述探针固定座、一个所述第一驱动件及若干所述探针，若干所述探针相对所述支承面呈不同方向地装设于所述探针固定座。

在其中一实施例中，所述探针固定座包括检测位置，所述第一驱动件驱动所述探针固定座沿预设方向移动终止于所述检测位置，所述探针触接所述产品上的检测位。

在其中一实施例中，所述升降组件包括支座、升降部及第二驱动件，所述支座设置于所述底座，所述固定部固接于所述升降部，所述支座设有滑轨，所述第二驱动元件设置于所述支座，并与所述升降部连接，用于驱动所述升降部在垂直于所述支承面的方向沿所述滑轨移动。

在其中一实施例中，所述固定部沿所述预设方向开设有滑槽，所述探针固定座包括主体部及连接于所述主体部的滑动部，所述主体部设有所述安装位，所述滑动部伸入所述滑槽，并与所述第一驱动件连接，以在所述第一驱动件的驱动下沿所述滑槽移动。