[发明专利]氧化物薄膜晶体管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710302093.7 申请日: 2017-05-02
公开(公告)号: CN108807546B 公开(公告)日: 2021-09-17
发明(设计)人: 竺立强;刘锐;肖惠;付杨明 申请(专利权)人: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/51;H01L21/34
代理公司: 上海一平知识产权代理有限公司 31266 代理人: 竺云;刘真真
地址: 315201 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 氧化物 薄膜晶体管 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种通过脉冲栅压调控阈值电压的薄膜晶体管的制造方法,其中,所述薄膜氧化物晶体管为以下任意一种结构类型:底栅顶接触型、底栅底接触型、底栅和顶栅相结合型,其特征在于,所述薄膜氧化物晶体管包含:绝缘衬底、栅介质层、位于所述栅介质层一侧的底栅电极,以及位于所述栅介质层另一侧的源极、漏极、以及所述源极和漏极之间的沟道层,所述栅介质是具有质子导电特性的固态电解质,并可以通过所述栅电极偏压脉冲的施加调控所述晶体管的阈值电压;

所述方法包含以下步骤:

提供一绝缘衬底,该绝缘衬底上形成有底栅电极;

在所述底栅电极上形成具有质子导电特性的固态电解质,作为栅介质层;

在所述栅介质层上形成图形化的漏极和源极,以及在所述漏极和源极之间的沟道层;

在所述漏极和源极上施加恒定偏压,同时,在底栅电极上施加偏压脉冲,以实现对所述薄膜氧化物晶体管的阈值电压的调控。

2.一种通过脉冲栅压调控阈值电压的薄膜晶体管的制造方法,其中,所述薄膜氧化物晶体管为以下任意一种结构类型:顶栅顶接触型、顶栅底接触型、底栅和顶栅相结合型,所述薄膜氧化物晶体管包含:绝缘衬底、栅介质层、位于所述栅介质层一侧的顶栅电极,以及位于所述栅介质层另一侧的源极、漏极、以及所述源极和漏极之间的沟道层,所述栅介质是具有质子导电特性的固态电解质,并可以通过所述栅电极偏压脉冲的施加调控所述晶体管的阈值电压;

所述方法其特征在于,包含以下步骤:

提供一绝缘衬底;

在所述绝缘衬底上形成图形化的沟道层、源极和漏极;

在所述沟道层上形成具有质子导电特性的固态电解质,作为栅介质层;

在所述栅介质层上形成顶栅电极;

在所述漏极和源极上施加恒定偏压,同时,在顶栅电极上施加偏压脉冲,以实现对所述薄膜氧化物晶体管的阈值电压的调控。

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