[发明专利]一种荧光光谱和吸收光谱集为一体的光谱仪在审

专利信息
申请号: 201710303153.7 申请日: 2017-05-03
公开(公告)号: CN108801985A 公开(公告)日: 2018-11-13
发明(设计)人: 李灿;冯兆池;郝静雅;张莹 申请(专利权)人: 中国科学院大连化学物理研究所
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/31
代理公司: 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人: 马驰
地址: 116023 *** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 光谱仪 吸收光谱 荧光光谱 光源 超连续谱 波长选择器 时间分辨荧光光谱 激发光波长 光源提供 激发波长 连续激发 时间分辨 连续光 滤光片 脉冲光 样品池 再使用 分光 风冷 采集 发射 计算机 研究
【权利要求书】:

1.一种荧光光谱和吸收光谱集为一体的光谱仪,其特征在于:所述光谱仪包括超连续谱光源(1)、波长选择器(2)、样品池(3)、电动滤光片(4)、光谱仪(5)、PMT探测器(6)和/或CCD探测器(7)、TCSPC时间相关光子计数器(8)、计算机(9),所述超连续谱光源(1)能够发射325nm-2400nm的连续激发光;

检测吸收光谱时,从波长选择器(2)的出射光进入样品池(3)的过程中经过三块反射镜(10),第一块反射镜置于波长选择器(2)与样品池(3)之间,使从波长选择器(2)射出的光垂直经过第一块反射镜90°反射到第二块反射镜,第二块反射镜与第一块反射镜平行相对放置,使光90°反射到第三块反射镜,光通过第三块反射镜90°垂直入射到样品池(3);

检测荧光光谱时,拆卸波长选择器(2)与样品池(3)之间的第一块反射镜,使从波长选择器(2)的出射光直接进入样品池(3);

从样品池(3)射出的光信号经电动滤光片(4)上的滤光片滤除光源杂散光后得到所需波长范围的光,通过光纤入射到光谱仪(5)的入射狭缝处,光信号经光谱仪(5)分光后入射到PMT探测器(6)或CCD探测器(7)接收透过的光强,再经计算机(9)的数据采集系统记录光信号,得到荧光光谱或吸收光谱。

2.根据权利要求1所述的光谱仪,其特征在于:TCSPC时间相关光子计数器(8)设置于PMT探测器(6)或CCD探测器(7)与计算机(9)之间,用于获得时间分辨荧光光谱或时间分辨吸收光谱。

3.根据权利要求1所述的光谱仪,其特征在于:获得吸收光谱时将超连续谱光源(1)发出的激发光经波长选择器(2)发出波长连续变化的入射光通过三块反射镜(10)照射到样品池(3)中的样品上;获得荧光光谱时将超连续谱光源(1)发出的激发光经波长选择器(2)发出波长固定的入射光照射到样品池(3)中的样品上。

4.按照权利要求1所述的光谱仪,其特征在于:

超连续谱光源(1)与波长选择器(2)之间,电动滤光片(4)与光谱仪(5)之间均使用光纤传输光信号。

5.按照权利要求1所述的光谱仪,其特征在于:

波长选择器(2)用于激发光源的波长选择。

6.按照权利要求1所述的光谱仪,其特征在于:

所述光谱仪采用透射式光栅成像光谱仪、反射式光栅成像光谱仪或凹面光栅成像光谱仪。

7.按照权利要求1所述的光谱仪,其特征在于:

PMT探测器(6)及CCD探测器(7)的检测范围为200nm-1700nm。

8.按照权利要求1所述的光谱仪,其特征在于:

在进行荧光光谱检测时,样品池(3)采用荧光池,光路沿超连续谱光源(1)射出方向入射样品池(3),光谱仪检测垂直于光路方向的样品发光;在进行吸收光谱检测时,样品池(3)采用比色皿,此时光路经过三块反射镜(10)后沿垂直于超连续谱光源(1)射出方向入射样品池(3),且通过样品池(3)的透光面入射,检测样品吸收。

9.按照权利要求8所述的光谱仪,其特征在于:

所述荧光池为四面透光,所述比色皿为两面透光。

10.按照权利要求1所述荧光光谱仪,其特征在于:

所述计算机(9)用于控制激光器,光谱仪和检测器,完成数据采集处理,实现光谱检测。

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