[发明专利]一种实现存储子系统数据完整性测试的方法及系统

权利要求书

1.一种实现存储子系统数据完整性测试的方法，其特征在于：所述数据完整性测试的方法基于OS下对硬盘数据进行读写校验，直接对存储子系统中的CPU、PCH、Raid卡、SAS卡、Expander卡、硬盘进行功能测试，完成对存储子系统数据完整性测试。

2.根据权利要求1所述的实现存储子系统数据完整性测试的方法，其特征在于：所述数据完整性测试的方法具体包括以下步骤：

S1：根据测试要求确认每个硬盘的最大测试地址，设为0-M；

S2：将每个硬盘的0-M范围内使用pattern=0x00000000，进行写入，将该部分地址全部写为0；

S3：将每个硬盘的0-M范围内从地址0开始读出数据，如果为0，则写入pattern=0xFFFFFFFF；

S4：将每个硬盘的0-M范围内从地址0开始读出数据，如果为F，则写入pattern=0x55555555；

S5：将每个硬盘的0-M范围内从地址0开始读出数据，如果为5，则写入pattern=0xAAAAAAAA；

S6：将每个硬盘的0-M范围内从地址0开始读出数据，如果为A，则测试通过。

3.根据权利要求1或2所述的实现存储子系统数据完整性测试的方法，其特征在于：所述数据完整性测试的方法中，校验失败时，将校验失败的步骤和地址写入log，测试过程中，自动检查log，从而确认故障位置及原因。

4.一种实现存储子系统数据完整性测试的系统，其特征在于：所述数据完整性测试的系统包括：

写入模块：用于写入根据测试要求确认的每个硬盘的测试地址范围；

读取模块：用于根据每个硬盘的测试地址范围依次读取地址数据；

判定模块：用于根据读取的硬盘的测试地址数据判定存储子系统的数据完整性。

5.根据权利要求4所述的实现存储子系统数据完整性测试的系统，其特征在于：所述数据完整性测试的系统还包括故障确认模块，用于在自动化测试过程中确认硬盘故障位置及原因。

6.根据权利要求5所述的实现存储子系统数据完整性测试的系统，其特征在于：所述数据完整性测试的系统用于对存储子系统中的CPU、PCH、Raid卡、SAS卡、Expander卡、硬盘进行功能测试。