[发明专利]发光设备和具有这样的发光设备的前照灯

权利要求书

1.一种发光设备(A1；A2；A3)，其具有：

-发光材料体积(1)，其用于将初级光(P)至少部分地波长转换成次级光(S)；

-初级光半导体光源(5)，其用于用初级光(P)照射所述发光材料体积(1)；

-测量光产生装置(6)，其用于产生测量光(M)，所述测量光具有位于所述初级光(P)和所述次级光(S)之外的光谱成分；

-对于所述测量光敏感的测量光探测器(10)；和

-与所述发光材料体积(1)固定连接的测量光滤波器(2)，所述测量光滤波器光学地设置在所述测量光产生装置和所述测量光探测器(10)之间。

2.根据权利要求1所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述测量光滤波器(2)是施加到所述发光材料体积(1)上的滤波层。

3.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述测量光滤波器(2)的厚度(d2)小于所述发光材料体积(1)的厚度(d1)并且最多是其五分之一。

4.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述测量光滤波器(2)在所述发光材料体积(1)上被制造。

5.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述发光材料体积(1)是小板状的陶瓷的发光材料体。

6.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述测量光滤波器(2)是反射所述测量光(M)的滤波器。

7.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述测量光滤波器(2)是吸收所述测量光(M)的滤波器。

8.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述测量光产生装置具有至少一个测量光半导体光源。

9.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述测量光产生装置具有：

-所述发光材料体积(1)，其附加地构成为用于将所述初级光(P)和/或所述次级光(S)转换成所述测量光(M)；或者

-位于所述发光材料体积(1)和所述测量光滤波器(2)之间的发光材料层。

10.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述测量光(M)是脉冲的和/或调制的测量光。

11.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述测量光产生装置和所述测量光探测器(10)位于相对于所述测量光滤波器(2)透射的装置中。

12.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中能够直接借助于所述测量光半导体光源照射附加的基准测量光探测器(8)。

13.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述测量光产生装置和所述测量光探测器(10)位于相对于所述测量光滤波器(2)反射的装置中。

14.根据权利要求1或2所述的发光设备(A1；A2；A3)，其中所述发光设备(A1；A2；A3)构成为交通工具照明设备。

15.一种前照灯，其具有至少一个根据上述权利要求中任一项的发光设备(A1；A2；A3)。