[发明专利]校正解离度的方法

权利要求书

1.一种校正解离度的方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤1、获取基础数据和校正数据；

所述基础数据是检测解离度所记录的原始数据和查取的辅助原始数据；所述校正数据是被测解离度的矿样中指定的金属元素的品位；

步骤2、基于所述基础数据和校正数据校正解离度，校正解离度的过程包括：

计算金属元素品位和解离度，比较金属计算品位和实际测定品位，计算并优化校正因数，选择并优化解离度基础数据，校正解离度。

2.如权利要求1所述的校正解离度的方法，其特征在于，步骤2中，金属元素品位β_计通过如下方法计算：

式中，n为连生体分类数量，X_i/n为连生体数量，i＝1、2……n-1、n，ρ_M为指定金属元素纯矿物的真密度，ρ_XO为主要脉石矿物的真密度。

3.如权利要求2所述的校正解离度的计算方法，其特征在于，步骤2中，解离度通过如下公式计算：

B=Σi=1n(Xin*i)n*Σi=1nXin,]]>

式中，X_i/n为不同连生体对应的数量，i＝1、2……n-1、n。

4.如权利要求3所述的校正解离度的方法，其特征在于，步骤2中，比较金属计算品位和实际测定品位的过程如下：

计算金属元素的计算品位β_计与金属元素实际品位β₀差值的绝对值δ，

δ＝|β_计-β₀|。

5.如权利要求4所述的校正解离度的方法，其特征在于，步骤2中，所述计算并优化校正因数，选择并优化解离度基础数据，校正解离度的过程如下：

判断金属元素的计算品位β_计与金属元素实际品位β₀差值的绝对值δ是否小于允许误差δ₀；若金属元素的计算品位β_计与金属元素实际品位β₀差值的绝对值δ小于等于允许误差δ₀，则解离度校正完毕；否则，确定校正因数y；

判断金属元素实际品位β₀是否大于等于预定值50，若是，则通过下式计算校正因数若否，则

6.如权利要求5所述的校正解离度的方法，其特征在于，得到校正因数y后，找出需要校正的基础数据，具体为：

选择连生体分类数大于解离度的作为被校正的基础数据；

选择出需要校正的连生体数量X_i/n；

对连生体数量X_i/n进行校正；

将校正后的连生体的数量X_i/n返回程序重新计算金属元素的品位β_计、解离度B，重新判断实际误差δ是否小于允许误差δ₀，直到输出解离度B并结束校正计算。