[发明专利]一种点光源异位式马赫‑曾德尔干涉仪测量装置及方法在审
申请号: | 201710311421.X | 申请日: | 2017-05-05 |
公开(公告)号: | CN107121205A | 公开(公告)日: | 2017-09-01 |
发明(设计)人: | 陈磊;丁煜;朱文华;韩志刚;郑东晖;郑权;张瑞;孙沁园;乌拉雅图 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01J9/02 | 分类号: | G01J9/02 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人: | 薛云燕 |
地址: | 210094 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光源 异位式 马赫 曾德尔 干涉仪 测量 装置 方法 | ||
1.一种点光源异位式马赫-曾德尔干涉仪测量装置,其特征在于,包括顺次设置的点光源(1)、分光组件(2)、主干涉仪(7)和分光成像组件(14),其中:
所述点光源(1)发出球面波,分光组件(2)将点光源(1)复制成四个相同的点光源,然后通过调整四个点光源在主干涉仪(7)的准直物镜焦面上与光轴的距离,在参考面与测试面的干涉中引入相应的相移量,最后通过分光成像组件(14)在一个CCD上同时获取四幅成像清晰的相移干涉图。
2.根据权利要求1所述的点光源异位式马赫-曾德尔干涉仪测量装置,其特征在于,所述分光组件(2)包括共光轴顺次设置的第一准直物镜(3)、棋盘光栅(4)、第一会聚物镜(5)和孔径光阑(6);所述孔径光阑(6)滤出棋盘光栅(4)的(±1,±1)级四束衍射光,并滤除其它级次衍射光,所得的四束衍射光复振幅相同,分别位于正方形的四个顶点,该正方形位于第一会聚物镜(5)的焦面,中心不在主干涉仪(7)的光轴上,正方形的边长d即相邻发散球面波的横向错位距离,d由棋盘光栅(4)与第一会聚物镜(5)确定:
d=2f1λ/Λ
其中,f1为第一会聚物镜(5)的焦距,λ为入射光波长,Λ为棋盘光栅(4)的光栅周期。
3.根据权利要求1所述的点光源异位式马赫-曾德尔干涉仪测量装置,其特征在于,所述主干涉仪(7)为马赫-曾德尔干涉仪,包括共光轴设置的第二准直物镜(8)、第一分光棱镜(9)、第一反射镜(10)、第二反射镜(11)、测试件(12)和第二分光棱镜(13);从点光源(1)发出的球面波经分光组件(2)分成四束后进入主干涉仪(7),每束光分别由第二准直物镜(8)扩束,然后被第一分光棱镜(9)分成两路:一路光通过参考臂,即第一反射镜(10);另一路光通过测试臂,即第二反射镜(11)和测试件(12);最后两路光再经第二分光棱镜(13)重新会合后,进入分光成像组件(14);
测试光经测试件后引入光程差的变化为D,调整异位式点光源到主干涉仪光轴之间的错位距离r,相应的移相量为:
其中,D为待测件引入的光程差,n为待测件的折射率,k=2π/λ为波矢,f4为主干涉仪中准直物镜的焦距。
4.根据权利要求1所述的点光源异位式马赫-曾德尔干涉仪测量装置,其特征在于,所述分光成像组件(14)包括共光轴顺次设置的第二会聚物镜(15)、透镜阵列(16)、成像物镜(17)、CCD(18);所述透镜阵列(16)位于第二会聚物镜(15)的焦面;经参考臂与测试臂后的四组参考光与测试光,分别经过透镜阵列(16)中各个透镜的物方主点,然后经成像物镜(17)准直成平行光,在CCD(18)的靶面上形成四个光斑。
5.根据权利要求4所述的点光源异位式马赫-曾德尔干涉仪测量装置,其特征在于,所述透镜阵列(16)为2×2负透镜阵列,每个负透镜的焦距f2满足f2=-dF#,其中d为相邻发散球面波的横向错位距离,F#为主干涉仪(7)中第二准直物镜(8)的F数。
6.根据权利要求4所述的点光源异位式马赫-曾德尔干涉仪测量装置,其特征在于,所述成像物镜(17)的前焦面与透镜阵列(16)的像方主面重合,成像物镜(17)的焦距f3满足f3≤LF#/2,其中L为CCD(18)靶面的宽度。
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