[发明专利]利用测井曲线对构造进行精细校正的方法

权利要求书

1.一种利用测井曲线对构造进行精细校正的方法，其特征在于步骤如下：

a、收集将进行压裂改造的页岩气水平井测井资料和井轨迹资料；

b、选取某一地层分层界面作为校正构造基面；

c、建立选取井深x米的测井参数与距离校正构造基面真厚度H的相关性公式：

H＝AX+BY+CZ+…+a

其中：A、B、C、…、a为常数，X、Y、Z、…为选取测井参数；

所述相关性公式具体是：

H＝-0.0755998529646553×GR+0.484034467565719×AC+0.324413040357806×CNL+22.5851335619178×DEN-0.023402684641622×RXO-0.0965828978484509×RT-67.4960180934846

其中：GR为自然伽玛，单位API；

AC为补偿声波，单位μs/ft；

CNL为补偿中子，单位p.u；

DEN为补偿密度，单位g/cm3；

RXO为浅电阻率，单位Ω·m；

RT为深电阻率，单位Ω·m；

d、根据求出的H，删除其中的异常数值，最终得到沿井轨迹向下投影的构造基面数值F：

F＝f(x)＝H+TVD

其中：TVD是对应井深x米的垂深数值；

根据求出的构造基面数值F，对页岩气水平井储层构造进行校正。

2.根据权利要求1所述的一种利用测井曲线对构造进行精细校正的方法，其特征在于：所述的测井资料和井轨迹资料包括斜深、垂深、方位和井斜。