[发明专利]晶振测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及晶振测试技术领域，具体涉及一种晶振测试装置。

背景技术

晶体振荡器(简称晶振)是各大通信系统中最基础的元器件，也是系统中的基准时钟，其性能是否稳定直接决定系统的稳定性、频率特性等一系列指标，对于宇航、武器型号的项目而言，均需对元器件进行筛选，尤其是对于已经进入批产阶段的型号，晶振使用量多，除筛选外，还需对其进行老化，以使其性能稳定。

目前市场上生产晶振的厂家只能提供单只夹具供购买方使用，无法满足批量晶振同时进行老化、筛选的要求，单只晶振进行老化和筛选显然会大大增加成本降低效率。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种晶振测试装置，解决现有技术中的晶振测试装置无法满足批量晶振同时进行老化、筛选的要求导致效率低的技术问题。

本发明实施例提供了一种晶振测试装置，包括：

PCB板，设置有被测晶振的焊盘；

弹性连接件，设置在所述PCB板上，与所述被测晶振的焊盘电连接，且能够与所述被测晶振连接；

底座，设置在所述PCB上，且开设有用于容纳被测晶振的容纳部；

压板，设置在所述底座与所述PCB板相对的一端，用于固定放置在所述容纳部中的被测晶振。

可选的，所述底座上开设有第一螺钉孔，所述PCB板上开设有与所述第一螺钉孔一一对应的第二螺钉孔；

所述晶振测试装置还包括第一螺栓，所述第一螺栓通过所述第一螺钉孔和所述第二螺钉孔将所述底座与所述PCB板连接。

可选的，所述第一螺钉孔和所述第二螺钉孔的个数均为两个以上，所述第一螺栓的个数与所述第一螺钉孔的个数相同。

可选的，所述底座上设置有第一卡位机构，所述PCB板上设置有与所述第一卡位机构匹配的第二卡位机构；所述底座与所述PCB板通过所述第一卡位机构和所述第二卡位机构连接在一起。

可选的，所述压板的横截面呈矩形，且所述压板能够搭设在所述容纳部上。

可选的，所述压板上开设有第三螺钉孔，所述底座上开设有第四螺钉孔；

所述晶振测试装置还包括第二螺栓；所述第二螺栓通过所述第三螺钉孔和所述第四螺钉孔将所述压板设置在所述底座上。

可选的，所述压板的两端分别设有第三螺钉孔和固定凹槽，所述底座上开设有与所述第三螺钉孔对应的第四螺钉孔，以及与所述固定凹槽对应的第四螺钉孔；

所述晶振测试装置还包括第二螺栓；所述第二螺栓通过所述第三螺钉孔、所述固定凹槽和所述第四螺钉孔将所述压板设置在所述底座上。

可选的，所述弹性连接件包括基部和与基部可伸缩连接的探针。

可选的，还包括弹簧，所述基部和所述探针通过所述弹簧连接。

可选的，所述底座和所述压板的材质均为玻璃钢。

采用上述技术方案，本发明至少可取得下述技术效果：本发明实施例，可快速复制及批量生产，且不限制于某种封装的晶振，只要采用弹性连接件作为电性能连接的工具，任何封装的晶振通过更改PCB板上晶振封装、底座和压片的大小就可快速复制，且适合批量加工制作，可以一次性对多个晶振同时进行老化、筛选等试验，具有成本低、适应性强、可维修性强、可靠性高、可循环使用等优点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据本发明实施例的内容和这些附图获得其他的附图。

图1是本实施例所述的晶振测试的结构示意图；

图2是图1沿A-A方向的剖视图；

图3是本实施例所述的底座的结构示意图；

图4是图1的仰视图；

图5是本实施例所述的压板的结构示意图；

图6是本实施例所述的弹性连接件的结构示意图。

具体实施方式

提供以下参照附图的描述来帮助全面理解由权利要求及其等同物限定的本公开的各种实施例。以下描述包括帮助理解的各种具体细节，但是这些细节将被视为仅是示例性的。因此，本领域普通技术人员将认识到，在不脱离本公开的范围和精神的情况下，可对本文所述的各种实施例进行各种改变和修改。另外，为了清晰和简洁，公知功能和构造的描述可被省略。