[发明专利]激光阵列扫描成像系统有效
申请号: | 201710328051.0 | 申请日: | 2017-05-11 |
公开(公告)号: | CN107219618B | 公开(公告)日: | 2023-08-29 |
发明(设计)人: | 刘伟伟;苏强;林列;孙陆 | 申请(专利权)人: | 南开大学 |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00;G02B21/24 |
代理公司: | 天津耀达律师事务所 12223 | 代理人: | 张耀 |
地址: | 300071 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光 阵列 扫描 成像 系统 | ||
1.一种激光阵列扫描成像系统,显微成像装置以及信号接收装置,其特征在于:还包括激光阵列产生装置,所述激光阵列产生装置包括接收准直后激光的相位板以及与所述相位板配合聚焦形成激光阵列的第一聚焦透镜;
所述相位板上设置有若干厚区以及若干薄区,且所述厚区所述薄区相间设置,激光束透射所述厚区与透射所述薄区之间的相位差为π;
所述激光阵列产生装置还包括准直镜,且激光束经所述准直镜透射至所述相位板上;
所述显微成像装置包括聚焦激光阵列至样品上的透镜组件以及反射携带样品信息的激光阵列二向色镜,所述信号接收装置包括接收所述二向色镜反射后激光阵列的第二聚焦透镜以及收集所述第二聚焦透镜透射光信号的探测器,所述探测器位于所述第二聚焦透镜的焦平面处;
所述透镜组件包括接收所述第一聚焦透镜形成的激光阵列的第三聚焦透镜以及接收所述第三聚焦透镜透射光信号且聚焦激光阵列至样品上的第四聚焦透镜,所述二向色镜位于所述第三聚焦透镜至所述第四聚焦透镜之间的光路上,且所述第三聚焦透镜与所述第四聚焦透镜之间的光轴与所述二向色镜之间具有倾斜角;
所述倾斜角为45度,所述第二聚焦透镜垂直于所述第三聚焦透镜;
准直后的激光束先透射相位板形成具有相位差的激光束,该激光束透射第一聚焦透镜后在第一聚焦透镜的焦平面处形成激光阵列,激光阵列进入透镜组件后,使得激光阵列聚焦于样品上。
2.如权利要求1所述的激光阵列扫描成像系统,其特征在于:还包括数据处理装置,用于将所述探测器采集到的光信号恢复出所述样品的图像。
3.如权利要求1所述的激光阵列扫描成像系统,其特征在于:所述探测器为CCD或者COMS。
4.如权利要求1所述的激光阵列扫描成像系统,其特征在于:应用在扫描近场显微镜、受激辐射光淬灭显微镜、光激活定位显微镜、随机光学定位重构显微镜、结构照明显微镜、双光子显微镜、单光子荧光显微镜、多光子显微镜、光学相干显微镜、共聚焦显微镜和拉曼显微镜上。
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