[发明专利]用于存储器的写辅助方法和装置在审
| 申请号： | 201710329938.1 | 申请日： | 2017-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN108877860A | 公开（公告）日： | 2018-11-23 |
| 发明（设计）人： | 郝旭丹;潘劲东;方伟 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/419 | 分类号： | G11C11/419 |
| 代理公司： | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人： | 高伟;卜璐璐 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储器 写操作 方法和装置 弱存储 最小工作电压 动态功耗 辅助操作 辅助动态 辅助的 功耗 减小 检测 | ||
1.一种用于存储器的写辅助方法，其特征在于，所述方法包括：
检测所述存储器中的弱存储单元；以及
在对所述存储器实施写操作时，确定所述写操作是否是针对所述弱存储单元的写操作，如果是，则对所述写操作实施写辅助，反之则不对所述写操作实施写辅助。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述检测所述存储器中的弱存储单元包括：确定所述存储器中的弱存储单元的地址和数据位；并且
所述确定所述写操作是否是针对所述弱存储单元的写操作包括：确定所述写操作的地址和数据位是否分别与所述弱存储单元的地址和数据位相同，如果是，则确定所述写操作是针对所述弱存储单元的写操作，反之则确定所述写操作不是针对所述弱存储单元的写操作。
3.一种用于存储器的写辅助装置，其特征在于，所述装置包括检测单元和确定单元，其中，
所述检测单元用于检测所述存储器中的弱存储单元；
所述确定单元用于确定将对所述存储器实施的写操作是否是针对所述弱存储单元的写操作，如果是，则使能所述存储器中相应的写辅助电路，反之则不使能所述写辅助电路。
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，
所述检测单元进一步用于确定所述存储器中的弱存储单元的地址和数据位；并且
所述确定单元进一步用于确定所述写操作的地址和数据位是否分别与所述弱存储单元的地址和数据位相同，如果是，则确定所述写操作是针对所述弱存储单元的写操作，反之则确定所述写操作不是针对所述弱存储单元的写操作。
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述确定单元为比较器，所述比较器用于将写操作的地址和数据位与所述弱存储单元的地址和数据位分别进行比较。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述装置还包括用于存储所述弱存储单元的地址和数据位的存储模块，并且所述比较器用于基于所述存储模块所存储的所述弱存储单元的地址和数据位实施所述比较操作。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述存储模块和所述比较器位于所述存储器的外部。
8.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述检测单元位于所述存储器内部。
9.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，对所述写辅助电路的使能与否通过控制对所述存储器增加的写辅助使能引脚来实现。
10.根据权利要求3-9中的任一项所述的装置，其特征在于，所述存储器为静态随机存取存储器。
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