[发明专利]一种具有非极性吸收层的紫外探测器有效

专利信息
申请号: 201710338137.1 申请日: 2017-05-15
公开(公告)号: CN107240615B 公开(公告)日: 2019-03-12
发明(设计)人: 张雄;代倩;吴自力;崔一平 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/109
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 王安琪
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 极性 吸收 紫外 探测器
【权利要求书】:

1.一种具有非极性吸收层的紫外探测器,其特征在于,包括:自下而上依次设置的衬底(101)、AlN中间层(102)、非掺杂AlGaN缓冲层(103)、n型AlGaN层(104)、非极性AlxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱吸收分离层(105)、非掺杂AlzGa1-zN倍增层(106)、p型AlGaN层(107),在p型AlGaN层(107)上设置的p型欧姆电极108,在n型AlGaN层(104)上设置的n型欧姆电极(109),其中0<x<y<z<1。

2.如权利要求1所述的具有非极性吸收层的紫外探测器,其特征在于,所述非极性AlxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱吸收分离层(105)材料为(11-20)、(10-10)面非极性面材料。

3.如权利要求1所述的具有非极性吸收层的紫外探测器,其特征在于,所述衬底(101)为极性、半极性、非极性取向的蓝宝石、碳化硅、硅、氧化锌、氮化镓、氮化铝材料。

4.如权利要求1所述的具有非极性吸收层的紫外探测器,其特征在于,所述AlN中间层(102)的厚度为15-5000nm,非掺杂AlGaN缓冲层(103)的厚度为50-5000nm,n型AlGaN层(104)的厚度为200-5000nm,非极性AlxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱吸收分离层(105)的AlxGa1-xN量子阱的阱宽为1-10nm,AlyGa1-yN势垒的垒厚为1-30nm,重复周期数为3-50,非掺杂AlzGa1-zN倍增层(106)的厚度为100-250nm,p型AlGaN层(107)的厚度为50-500nm。

5.如权利要求1所述的具有非极性吸收层的紫外探测器,其特征在于,所述非极性AlxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱吸收分离层(105)和非掺杂AlzGa1-zN倍增层(106)中Al组分的关系满足:0<x<y<z<1。

6.如权利要求1所述的具有非极性吸收层的紫外探测器,其特征在于,所述非掺杂AlzGa1-zN倍增层(106)为单层AlGaN外延层结构,或是AlGaN/AlGaN量子阱结构,其中量子阱的阱宽为1-10nm,垒厚为5-30nm,重复周期数为3-50。

7.如权利要求1所述的具有非极性吸收层的紫外探测器,其特征在于,所述p型欧姆电极(108)和n型欧姆电极(109)的材料为Ni、Al、Au、Ag或Ti中的任何一种金属或由以上多种金属构成的合金材料。

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