[发明专利]天线测量系统以及天线测量方法

权利要求书

1.一种天线测量系统，其为在近场测量由被测天线(100)发射的无线信号的振幅以及相位的天线测量系统(1)，其特征在于，具备：

多个探针天线(12)，在配置于所述被测天线的近场区域的规定测量平面内的多个测量位置的局部接收所述无线信号；

探针扫描构件(13)，使所述多个探针天线移动到所述多个测量位置；

振幅相位差测量部(16)，每当各所述探针天线通过所述探针扫描构件移动到所述测量位置时，测量通过所述多个探针天线接收的无线信号间的相位差，并且测量通过所述多个探针天线接收的无线信号的振幅；以及

相位计算部(18)，由通过所述振幅相位差测量部测量的相位差，计算各所述测量位置上的所述无线信号的相位，

所述被测天线将RF电路一体化而成，

使所述多个探针天线维持相对位置的同时移动。

2.根据权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，

还具备通过远场指向性计算部(20)，其利用通过所述振幅相位差测量部测量的振幅的信息以及通过所述相位计算部计算的相位的信息，计算远场的电场强度分布。

3.根据权利要求1至2中任一项所述的天线测量系统，其特征在于，

所述多个探针天线通过所述探针扫描构件同时配置于4个以上的测量位置，以相对于连接该4个以上的测量位置中相邻的任意2个所述测量位置的直线成为线对称的方式配置。

4.根据权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，

所述多个探针天线包括：中心探针天线(p1)；左探针天线(p2)以及右探针天线(p3)，以所述中心探针天线为中心在所述测量平面的水平方向上对称配置；以及上探针天线(p4)以及下探针天线(p5)，以所述中心探针天线为中心所述测量平面的垂直方向上对称配置，

所述相位计算部具有相位差平均化部(23)，其使在相邻的2个测量位置通过所述振幅相位差测量部测量的多个相位差平均化，所述相位计算部由通过所述相位差平均化部平均化的相位差计算各所述测量位置上的所述无线信号的相位。

5.根据权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，

所述多个探针天线中的至少1个具有传播规定频率范围的电磁波的波导(31)，且为该波导的截面形状为中央部(31a)的高度小于两侧部(31b、31c)的高度的双脊波导管。

6.根据权利要求5所述的天线测量系统，其特征在于，

所述多个探针天线中相邻的至少2个为所述双脊波导管，

在隔开相邻的2个所述双脊波导管的壁部(12w)从所述双脊波导管的开口面(12p)侧沿所述波导的长边方向设置有规定长度的狭缝(12s)。

7.根据权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，

所述多个探针天线的开口形状相同。

8.根据权利要求1所述的天线测量系统，其特征在于，

还具备支撑所述被测天线的天线支撑部(40)，

所述天线支撑部构成为将所述被测天线的电磁波放射面(100a)与所述测量平面正对的方向设为基准方向，能够从所述基准方向变更所述电磁波放射面的方向。

9.一种天线测量方法，其利用权利要求1至8中任一项所述的天线测量系统，其特征在于，包括：

探针扫描步骤(S2)，使各所述探针天线移动到多个测量位置；

振幅相位差测量步骤(S4)，每当各所述探针天线扫描到所述测量位置时，测量通过所述多个探针天线接收的无线信号间的相位差，并且测量通过所述多个探针天线接收的无线信号的振幅；以及

相位计算步骤(S7)，由通过所述振幅相位差测量步骤测量的相位差，计算各所述测量位置上的所述无线信号的相位。