[发明专利]一种面板灰尘过滤方法及装置有效
申请号: | 201710343204.9 | 申请日: | 2017-05-16 |
公开(公告)号: | CN107219229B | 公开(公告)日: | 2020-07-03 |
发明(设计)人: | 张胜森;吕东东;陈峰;邓标华 | 申请(专利权)人: | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 430070 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 面板 灰尘 过滤 方法 装置 | ||
本发明公开了一种面板灰尘过滤方法及装置。对面板进行缺陷检测,获取面板缺陷的位置数据和特征数据,得到面板历史缺陷信息;对当前检测面板上表面灰尘做过滤操作;根据面板历史缺陷信息,对当前检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘,对灰尘进行过滤;将当前检测面板的缺陷判断数据更新到面板历史缺陷信息。相比于现有技术,极大程度的降低了面板下表面灰尘带来的误检,提高了AOI检测系统的性能。
技术领域
本发明涉及图像缺陷领域,具体涉及一种面板灰尘过滤方法及装置。
背景技术
在进行AOI的LCD面板缺陷检测的过程中,很重要的一步就是灰尘的过滤。其中灰尘包含LCD面板上表面的灰尘和下表面的灰尘,如图1所示。因为这些灰尘的存在,故而面板的成像在灰尘位置存在异常。该异常和真正的缺陷非常的类似,如果不进行过滤就会导致大量的灰尘区域被当做缺陷检测出来,导致大量误检的产生,从而影响整个AOI系统的性能。因此在进行LCD面板缺陷检测的时候,必须要进行灰尘的过滤。
由于灰尘包含了上表面的灰尘和下表面的灰尘,故而一般的方案中都会单独拍摄两张图像。
首先拍摄下表面灰尘图像,由于透光差的位置一般是下表面所在的位置,故而在下表面灰尘过滤图像中进行暗点的检测,该暗点(斑)即为背后灰尘。其次拍摄上表面过滤图像,由于开启了上下侧光灯和左右侧光灯,上表面的灰尘能够被均匀的照亮。故而在上表面过滤图像中进行亮点(斑)的检测即可得到表面灰尘所在的位置。
针对黑底液晶屏,由于完全不透光,故而可以将面板翻转将下表面灰尘转换为上表面灰尘来进行过滤。
现有的技术中存在如下几个问题:
1、目前大部分的LCD屏都是黑底模式,整个LCD面板都不透光,故而无法区分是否存在下表面灰尘。然而这些下表面灰尘在其他的检测画面(Red、Green、Blue、L0、L48、L127、L255等)会对该区域的成像带来一定的影响。
术语解释:
黑底液晶屏,对于此类液晶屏,不施加电压时,液晶不透光,呈现黑画面;施加电压时,液晶透光,显示白画面。
红、绿、蓝称为三基色,为LCD发光显示所采用,红、绿、蓝调节范围分别为0-255,它又称为RGB颜色模式,三色全部为0就是黑色,三色全部为255就是白色,单色红、绿、蓝为255就是:红(Red255)、绿(Green255)、蓝(Blue255),分别为RGB设置不同的值可以搭配出千变万化的颜色,L48:48灰阶画面,RGB的值均为48,RGB(48,48,48)画面。
2、采用翻转面板的方式可以解决大部分下表面灰尘问题,但是部分的下表面是附着在钢化玻璃表面,或者附着在灯箱内部,即使翻转也无法被拍摄到。同时进行面板的翻转会导致整个机构异常的复杂,极大的增加设备的成本。
发明内容
本发明的目的在于在黑底液晶屏的模式下,提出了一种灰尘的过滤方法及装置。该方法通过跟踪每一块面板检测到的缺陷的位置和特征,获取每个缺陷的历史轨迹信息,并实时的更新缺陷历史轨迹信息。根据缺陷历史轨迹信息来进行当前面板的灰尘的过滤,同时对历史误判的面板进行结果修正,从而有效的降低灰尘带来的误检。
一方面,本发明提供一种面板灰尘过滤方法,所述方法包括如下步骤:
步骤S1,对面板进行缺陷检测,获取面板缺陷的位置数据和特征数据,得到面板历史缺陷信息;
步骤S2,对当前检测面板上表面灰尘做过滤操作;根据面板历史缺陷信息,对当前检测面板检测到的缺陷判断是否为下表面灰尘,对灰尘进行过滤;
步骤S3,将当前检测面板的缺陷判断数据更新到面板历史缺陷信息。
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