[发明专利]轴瓦用磁力半圆周长测量仪

权利要求书

1.一种轴瓦用磁力半圆周长测量仪，其特征在于，包括主体组件（1）及与之连接的轴瓦半圆胎具组件（2），在轴瓦半圆胎具组件（2）上部一侧设有高精度触感器组合件（3），在高精度触感器组合件（3）上部从右到左依次设有负极磁力组件（4），负极助加力磁力组件（5），正极芯棒组件（6），正极助加力磁力组件（7），正极磁力外加力组件（8），正极助加力磁力组件（7）置于正极磁力外加力组件（8）内，正极芯棒组件（6）与高精度触感器组合件（3）连接，在轴瓦半圆胎具组件（2）上部另一侧设有显示器组合件（9），显示器组合件（9）设有加力上调控制键A，加力下调控制键B，测量下行控制键C，测量上行控制键D，检测自动控制键E，开关F。

2.根据权利要求1所述的轴瓦用磁力半圆周长测量仪，其特征在于，轴瓦用磁力半圆周长测量仪检测的轴瓦半圆周长范围数值为32～3000mm。

3.根据权利要求1或2所述的轴瓦用磁力半圆周长测量仪，其特征在于，操作显示器组合件（9）上的测量下行控制键C的整个命令输出时间≤3s。

4.根据权利要求1或2所述的轴瓦用磁力半圆周长测量仪，其特征在于，操作显示器组合件（9）上的测量上行控制键D的整个命令输出时间≤2s。

5.根据权利要求1或2所述的轴瓦用磁力半圆周长测量仪，其特征在于，下行测量压力输出技术要求值≤2s，高精度触感器组合件（3）的数据自动换算结果值精度误差为0.002～0.004mm。

6.根据权利要求1或2所述的轴瓦用磁力半圆周长测量仪，其特征在于，显示器组合件（9）上的加力上调控制键A与加力下调控制键B进行压力上下调整的精度为20～35N。

7.根据权利要求1或2所述的轴瓦用磁力半圆周长测量仪，其特征在于，高精度触感器反应时间≤0.5s，触头配合间隙0.010～0.015mm，表面有0.06～0.08mm二硫化钼涂层，寿命为≥1千万次。

8.根据权利要求1或2所述的轴瓦用磁力半圆周长测量仪，其特征在于，磁力组件为间隙配合，运动件表面有0.06～0.08mm二硫化钼涂层，轴套内圆表面为网纹加工，网纹深度为0.08～0.12mm。