[发明专利]一种黑白图像中缺陷像素的校正方法

权利要求书

1.一种黑白图像中缺陷像素的校正方法，其特征在于，包括：

步骤01：采集一张黑白图像；

步骤02：以2×2个像素作为一个检测单元，对所述黑白图像进行缺陷像素的检测，并将缺陷像素存储在存储单元中；

步骤03：找到所述黑白图像中的第一个缺陷像素P(0)(0)，确定以该缺陷像素P(0)(0)为顶点的2×2个像素组成的检测单元，其中，P(0)(0)位于该检测单元的左上角，P(0)(1)位于该检测单元的右上角，P(1)(0)位于该检测单元的左下角，P(1)(1)位于该检测单元的右下角，对该检测单元中的第一行缺陷像素采用基于区域边缘方向的校正方法进行校正，校正之后的缺陷像素标记为正常点，按照上述方式，对所述黑白图像中该缺陷像素所在行的剩余缺陷像素依次进行校正，当该行中的边缘缺陷像素不能采用基于区域边缘方向的校正方法进行校正时，则该缺陷像素不做校正；

其中，当所述检测单元中缺陷像素个数小于3时，若P(0)(1)为缺陷像素，则采用第一校正法对P(0)(0)和P(0)(1)进行校正，若P(0)(1)不为缺陷像素，则采用第一校正法对P(0)(0)进行校正；当所述检测单元中缺陷像素个数大于等于3时，若P(0)(1)为缺陷像素，则采用第二校正法对P(0)(0)和P(0)(1)进行校正，若P(0)(1)不为缺陷像素，则采用第一校正法对P(0)(0)进行校正；

所述第二校正法的步骤包括：

步骤B01：以P(0)(0)像素为顶点，向左和向上方向的3×3个像素组成第二校正单元，该校正单元中第一行的像素从左到右依次为P(-2)(-2)，P(-2)(-1)，P(-2)(0)，第二行的像素从左到右依次为P(-1)(-2)，P(-1)(-1)，P(-1)(0)，第三行的像素从左到右依次为P(0)(-2)，P(0)(-1)，P(0)(0)；

步骤B02：判断该第二校正单元的区域边缘方向；

步骤B03：若水平方向为该第二校正单元的区域边缘方向，则P(0)(0)＝P(0)(-1)+(P(-2)(0)-P(-2)(-1)+P(-1)(0)-P(-1)(-1))/2；

若竖直方向为该第二校正单元的区域边缘方向，则P(0)(0)＝P(-1)(0)+(P(0)(-1)-P(-1)(-1)+P(0)(-2)-P(-1)(-2))/2；

若对角线方向为该第二校正单元的区域边缘方向，则P(0)(0)＝P(-1)(1)+(P(0)(-1)-P(-1)(0)+P(-1)(-1)-P(-2)(0)+P(-1)(-2)-P(-2)(-1))/3；

若反对角线方向为该第二校正单元的区域边缘方向，则P(0)(0)＝P(-1)(-1)+(P(0)(-1)-P(-1)(-2)+P(-1)(0)-P(-2)(-1))/2；

步骤B04：若P(0)(1)为缺陷像素，重复步骤B01-B04，对P(0)(1)进行校正；

步骤04：重复步骤03，依次对所述黑白图像中所有行的缺陷像素进行校正，输出图像；

其中，步骤02中缺陷像素的检测的具体步骤为：

步骤0201：进行缺陷像素的第一次检测，去除黑白图像中的最下行和最右列像素之后，对剩余像素中的j/2×i/2个检测单元进行逐个检测，比较待检测像素值与该待检测像素的阈值之间的关系，如果待检测像素值大于阈值，则为缺陷像素，否则，为正常点；

步骤0202：进行缺陷像素的第二次检测，去除黑白图像中的最下行和最左列像素之后，对剩余像素中的j/2×i/2个检测单元进行逐个检测，比较待检测像素值与该待检测像素的阈值之间的关系，如果待检测像素值大于阈值，则为缺陷像素，否则，为正常点；

步骤0203：进行缺陷像素的第三次检测，去除黑白图像中的最上行和最右列像素之后，对剩余像素中的j/2×i/2个检测单元进行逐个检测，比较待检测像素值与该待检测像素的阈值之间的关系，如果待检测像素值大于阈值，则为缺陷像素，否则，为正常点；

其中，所述黑白图像中每行含有i+1个像素，每列含有j+1个像素。

2.根据权利要求1所述的一种黑白图像中缺陷像素的校正方法，其特征在于，所述待检测像素的阈值为阈值系数与检测单元中位于待检测像素对角线上两个像素的中值的乘积。

3.根据权利要求2所述的一种黑白图像中缺陷像素的校正方法，其特征在于，所述阈值系数为1.5-2.5。