[发明专利]图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统与方法有效
申请号: | 201710348763.9 | 申请日: | 2017-05-17 |
公开(公告)号: | CN107036713B | 公开(公告)日: | 2019-04-12 |
发明(设计)人: | 张淳民;权乃承;穆廷魁 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01J3/30 | 分类号: | G01J3/30;G01J3/447 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 刘强 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 强度光谱 第二延迟器 第一延迟器 高分辨率 探测系统 线偏振光 成像镜 检偏器 偏光镜 平行光 延迟器 图像 前置望远系统 光谱分辨率 快速变化 入射光线 实时测量 通道光谱 望远系统 序列测量 干涉图 入射光 三通道 主光轴 失配 准直 复原 | ||
1.一种图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统,其特征在于,沿入射光线的主光轴从左到右依次设有用于准直的望远系统(1)、第一延迟器(2)、第二延迟器(3)、Wollaston棱镜(4)、Savart偏光镜(5)、第三延迟器(6)、检偏器(7)、成像镜(8)及CCD探测器(9);入射光经前置望远系统(1)准直后变为平行光,平行光依次通过第一延迟器(2)、第二延迟器(3)、Wollaston棱镜(4)、Savart偏光镜(5)、第三延迟器(6)、检偏器(7)和成像镜(8),最终在CCD探测器(9)上获取到两幅三通道干涉图,构建满足右手定则的xyz坐标系,主光轴为z轴,所述第一延迟器(2)的快轴方向与x轴正向的夹角为0°,第二延迟器(3)的快轴方向与x轴正向的夹角为45°;Wollasto棱镜(4)的光轴分别位于yz与xz平面,光轴均与z轴垂直,第三延迟器(6)的快轴方向与x轴正向的夹角为45°;检偏器(7)的透振方向与y轴平行,CCD探测器(9)的感光面位于成像镜(8)的后焦面处。
2.根据权利要求1所述的图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统,其特征在于,所述望远系统(1)由第一透镜(101)、视场光阑(102)和第二透镜(103)组成;所述视场光阑(102)设置于第一透镜(101)和第二透镜(103)之间的主光轴上。
3.根据权利要求2所述的图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统,其特征在于,视场光阑(102)位于第一透镜(101)的后焦面上,并与第二透镜(103)的前焦面重合。
4.根据权利要求1所述的图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统,其特征在于,Savart偏光镜(5)左板的光轴与z轴正向成45°夹角,在xy平面内的投影与x轴正向夹角为45°;Savart偏光镜(5)右板的光轴与z轴负向成45°夹角,在xy平面内的投影与x轴正向夹角为45°。
5.一种如权利要求1所述图像、高分辨率强度光谱与线偏振光谱探测系统的探测方法,其特征在于:入射光经前置望远系统(1)准直后变为平行光,平行光依次通过第一延迟器(2)、第二延迟器(3)、Wollaston棱镜(4)、Savart偏光镜(5)、第三延迟器(6)、检偏器(7)和成像镜(8),最终在CCD探测器(9)上获取到的两幅三通道干涉强度I1和I2分别为:
其中分别为第一延迟器(2)、第二延迟器(3)、第三延迟器(4)产生的延迟量;ΔSP为Savart偏光镜(5)产生的光程差;
由以上两式可得:
根据傅里叶变换光谱学原理,对(3)式进行傅里叶变换可以复原出S0;对(4)式通道滤波及傅里叶变换,可以得到S0、S1、S2及S3:
其中FT{}代表傅里叶变换,real{}代表取实部,imag{}代表取虚部
S0代表光强,S1代表0°和90°线偏振光的强度差,S2代表45°和135°线偏振光的强度差,S3代表右旋和左旋圆偏振光的强度差。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安交通大学,未经西安交通大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710348763.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。