[发明专利]具有真空导正的元件入料排列供给装置有效
申请号: | 201710349203.5 | 申请日: | 2017-05-17 |
公开(公告)号: | CN108946065B | 公开(公告)日: | 2020-03-24 |
发明(设计)人: | 苏飞龙 | 申请(专利权)人: | 友立新科技股份有限公司 |
主分类号: | B65G47/14 | 分类号: | B65G47/14 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 景怀宇 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 真空 导正 元件 排列 供给 装置 | ||
本发明提供一种具有真空导正的元件入料排列供给装置,包含基座、盖板、真空导正装置以及静电吸附装置。基座的一侧边具有导料缺口。盖板枢接于基座并结合有多个模组导条,模组导条包含导入导条及多个外圈导条。真空导正装置设置于盖板,并具有导正件,静电吸附装置固设于基座并具有辅助待测元件排列导出的吸附条,其位于导料缺口的下方。当盖板盖合时,吸附条对准于导正件,以使待测元件紧靠于导正件逐一载入至测试转盘,以此改善待测元件在载入至测试转盘时的震动位移现象,以解决待测元件在测试转盘上排列不整齐的问题。
技术领域
本发明涉及一种元件入料排列供给装置,特别是涉及一种具有真空导正的元件入料排列供给装置。
背景技术
已知被动元件与微小化电子元件应先进行外观检测,方可以接合到电路板。而为了加速测试效率,有人提出待测被动元件可以整列排列在测试转盘上,利用测试转盘的转动,进行多道测试与分类工序。而待测被动元件的整列排列是通过入料排列供给装置的转载实现。然而,随着元件微小化发展趋势,待测被动元件更容易受到转载的震动产生位移,因此如何将待测被动元件精准且快速地整列排列在测试转盘上变成一个严肃的课题。
传统的被动元件的入料排列供给装置主要分为两种,分别为直轨震动整列式与双转盘整列式。一种已知的直轨震动整列式入料排列供给装置已揭示于台湾专利第I433804号,其揭示一种“工件供给装置”,具有工件环绕路和工件输送路的输送碗,以及使输送碗绕轴线进行往复震动的旋转震动机。工件环绕路为绕轴线闭合的圆环状且在外周缘具备工件保持面,工件输送路为从工件环绕路的规定位置朝向外周侧向绕所述轴线的规定方向倾斜地分支并且绕轴线逐渐上升。通过输送碗的绕轴线的往复震动,工件在工件环绕路及工件输送路上朝向所述规定方向移动。当向工件环绕路导入工件时,利用激震体所产生的激震作用,输送体绕轴线进行往复震动,由此导入的工件在闭合的圆环状工件环绕路上受到离心力,其被压抵于外周侧的工件保持面且同时沿着规定方向进行环绕。
另外,关于双转盘整列式入料排列供给装置,已揭示于台湾专利第M506133号的“元件入料排列供给装置”与台湾公开专利第201332866号的“自动排列供给的外观检测机”,将成堆散乱的被动元件经由分散转盘与盖板的导条进行分散整理并有次序地转载导入到测试转盘上,以供进行被动元件的外观检测作业。
发明内容
为了解决上述的问题,本发明提供一种具有真空导正的元件入料排列供给装置,应用于双转盘整列式,用以改善待测元件在载入至测试转盘时的震动位移现象,以解决待测元件在测试转盘上排列不整齐的问题。
一种具有真空导正的元件入料排列供给装置,用于装设于元件外观检测机,所述元件外观检测机具有测试转盘,所述具有真空导正的元件入料排列供给装置设于所述测试转盘一侧,所述具有真空导正的元件入料排列供给装置包括:基座,其设有分料转盘,所述基座具有第一侧边,所述第一侧边具有导料缺口,以使所述分料转盘局部重叠于所述测试转盘上;盖板,枢接于所述基座,用以盖合于所述分料转盘上,所述盖板具有内表面,所述内表面拆卸式结合有多个模组导条,所述模组导条包含导入导条及多个螺纹状断续排列的外圈导条;真空导正装置,设置于所述盖板的内表面,所述真空导正装置包括导正件,所述导正件具有连通于真空装置的真空凹槽与导正面,所述导正面位于所述真空凹槽一侧;以及静电吸附装置,固设于所述基座,所述静电吸附装置具有辅助待测元件排列导出的吸附条,其位于所述导料缺口的下方;其中,当所述盖板为盖合状态,所述吸附条对准于所述导正件,以使待测元件紧靠所述导正面并由所述分料转盘逐一载入至所述测试转盘。
在其中一个实施例中,所述真空凹槽通过真空抽气管连通于所述真空装置。
在其中一个实施例中,所述真空凹槽通过气孔与所述真空抽气管连接。
在其中一个实施例中,所述导正面为镜面。
在其中一个实施例中,所述吸附条位于所述分料转盘与所述测试转盘的重叠区域的下方且不超出所述导正件的导正面。
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