[发明专利]一种摄像模组污点测试方法及装置

权利要求书

1.一种摄像模组污点测试方法，其特征在于，包括：

对摄像模组拍摄到的图像，基于图像中暗区域和亮区域的交界进行拟合，将拟合得到的区域作为有效发光区域，并计算该区域的圆心和半径；

在图像的所述有效发光区域内测试污点。

2.根据权利要求1所述的摄像模组污点测试方法，其特征在于，以球形光源罩住所述摄像模组，以所述摄像模组拍摄图像。

3.根据权利要求1所述的摄像模组污点测试方法，其特征在于，所述在图像的所述有效发光区域内测试污点包括：

遍历所述有效发光区域内像素点，计算像素点与其邻域内像素点的对比度，当在该像素点邻域内对比度满足预设条件的像素点的数量达到第一范围，则将该像素点确定为污点内像素点；

根据被确定为污点内像素点在图像中捉取出污点。

4.根据权利要求3所述的摄像模组污点测试方法，其特征在于，所述在所述有效发光区域内测试污点还包括：对图像的所述有效发光区域进行预处理，处理过程包括：

S1：遍历所述有效发光区域内像素点，对于一像素点，求取像素点邻域内的、分别位于该像素点多个不同方向上的像素点值的平均值；

S2：将各方向的像素点值的平均值求平均，将得到的值作为该像素点值。

5.根据权利要求4所述的摄像模组污点测试方法，其特征在于，所述步骤S1具体包括：在像素点邻域内，求取分别位于该像素点至少三个不同方向上的像素点值的平均值；

所述步骤S2具体包括：对于该像素点至少三个不同方向上的像素点值的平均值，排除其中的最大值和最小值，将剩余值求平均，将得到的值作为该像素点值。

6.根据权利要求1-5任一项所述的摄像模组污点测试方法，其特征在于，所述在图像的所述有效发光区域内测试污点包括：根据形状和饱满度对污点进行筛选。

7.一种摄像模组污点测试装置，其特征在于，包括：

处理模块，用于对摄像模组拍摄到的图像，基于图像中暗区域和亮区域的交界进行拟合，将拟合得到的区域作为有效发光区域，并计算该区域的圆心和半径；

测试模块，用于在图像的所述有效发光区域内测试污点。

8.根据权利要求7所述的摄像模组污点测试装置，其特征在于，所述测试模块包括：

第一计算子模块，遍历所述有效发光区域内像素点，计算像素点与其邻域内像素点的对比度，当在该像素点邻域内对比度满足预设条件的像素点的数量达到第一范围，则将该像素点确定为污点内像素点；

第一污点捉取子模块，用于根据被确定为污点内像素点在图像中捉取出污点。

9.根据权利要求8所述的摄像模组污点测试装置，其特征在于，所述测试模块还包括：

预处理子模块，用于对图像的所述有效发光区域进行预处理，处理过程包括：

S1：遍历所述有效发光区域内像素点，对于一像素点，求取像素点邻域内的、分别位于该像素点多个不同方向上的像素点值的平均值；

S2：将各方向的像素点值的平均值求平均，将得到的值作为该像素点值。

10.根据权利要求9所述的摄像模组污点测试装置，其特征在于，所述步骤S1具体包括：在像素点邻域内，求取分别位于该像素点至少三个不同方向上的像素点值的平均值；

所述步骤S2具体包括：对于该像素点至少三个不同方向上的像素点值的平均值，排除其中的最大值和最小值，将剩余值求平均，将得到的值作为该像素点值。