[发明专利]一种星载天线机械指向精度快速测量方法有效

专利信息
申请号: 201710355295.8 申请日: 2017-05-19
公开(公告)号: CN107121124B 公开(公告)日: 2019-05-28
发明(设计)人: 钟鸣;任振平;席春树;金博;陈晓峰;周鑫;詹军海 申请(专利权)人: 上海宇航系统工程研究所
主分类号: G01C1/04 分类号: G01C1/04
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 金家山
地址: 201108 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 天线 机械 指向 精度 快速 测量方法
【权利要求书】:

1.一种星载天线机械指向精度快速测量方法,其特征是,包括以下步骤:

1)在天线阵面粘贴若干反光标志点、反光编码点及公共标志点;所述反光编码点作为拼接图像的标志点,在反光标志点之间均匀分布;

2)展开天线,在测量区域架设长度基准尺,用相机在天线阵面前拍摄若干张不同位置和方向的像片;

3)利用图像处理软件对反光标志点和公共标志点图像特征提取和中心定位,对像点匹配和拼接,通过光束平差法计算反光标志点和公共标志点在相机测量坐标系下的三维点坐标;

4)架设2 台经纬仪建站并测量公共标志点,获得公共标志点在经纬仪测量坐标系下的三维点坐标;

5)通过公共标志点转换,获得反光标志点在经纬仪测量坐标系下的三维点坐标,以最小二乘法拟合计算天线阵面的法线,获取法线方向与经纬仪测量坐标系的夹角;

6)1 台经纬仪准直测量卫星基准棱镜,获得卫星基准棱镜与水平面的夹角;三台经纬仪互瞄,获得方位角,最终通过计算获得天线阵面的法线与卫星坐标系的机械指向精度。

2.根据权利要求1 所述的一种星载天线机械指向精度快速测量方法,其特征是,所述的反光标志点布置的位置可反映天线型面特征。

3.根据权利要求1 所述的一种星载天线机械指向精度快速测量方法,其特征是,所述的反光编码点的数量≧4 个。

4.根据权利要求1 所述的一种星载天线机械指向精度快速测量方法,其特征是,所述的公共标志点能被相机和经纬仪共同识别,并且数量≧3 个。

5.根据权利要求1 所述的一种星载天线机械指向精度快速测量方法,其特征是,架设长度基准尺的长度≧1 米并与被测天线阵面保持相对静止。

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