[发明专利]延迟时间校正电路、半导体器件驱动电路以及半导体装置

权利要求书

1.一种延迟时间校正电路，其通过使来自外部的输入信号延迟，从而生成向驱动部提供的预驱动信号，该驱动部生成半导体开关元件的驱动信号，

所述延迟时间校正电路具有：

暂态变化检测部，其对所述半导体开关元件的导通动作以及截止动作中的一方的动作的暂态变化进行检测；

校正信号生成部，其基于所述输入信号和由所述暂态变化检测部检测出的暂态变化而生成校正信号；以及

延迟输出部，其使用所述校正信号而使所述输入信号延迟，由此生成与所述预驱动信号相对应的输出信号，

在所述延迟输出部中，使得对导通动作以及截止动作中的与所述一方的动作不同的另一方的动作进行指示的所述输出信号，对应于此前最近所进行的所述一方的动作的暂态变化的期间的长度而相对于所述输入信号延迟。

2.根据权利要求1所述的延迟时间校正电路，其中，

所述暂态变化检测部基于施加至所述半导体开关元件的栅极电压的变化而对所述半导体开关元件的暂态变化进行检测。

3.根据权利要求1所述的延迟时间校正电路，其中，

所述暂态变化检测部基于所述半导体开关元件的主端子间的电压的变化而对所述半导体开关元件的暂态变化进行检测。

4.根据权利要求1所述的延迟时间校正电路，其中，

所述暂态变化检测部基于所述半导体开关元件的主端子间的电流的变化而对所述半导体开关元件的暂态变化进行检测。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的延迟时间校正电路，其中，

所述一方的动作为导通动作。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的延迟时间校正电路，其中，

所述一方的动作为截止动作。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的延迟时间校正电路，其中，

所述暂态变化检测部还对所述半导体开关元件的导通动作以及截止动作中的所述另一方的动作的暂态变化进行检测，

在所述延迟输出部中，使得对导通动作以及截止动作中的所述一方的动作进行指示的所述输出信号，与此前最近所进行的所述另一方的动作的暂态变化的期间的长度相应地相对于所述输入信号延迟。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的延迟时间校正电路，其中，

所述延迟输出部具有相应于所述半导体开关元件的暂态变化的期间而被充电的电容，通过所述电容的电压值和规定的电容电压阈值之间的比较而确定所述输出信号，

所述电容的电压的下限值被钳位于所述电容电压阈值和电压零之间的值。

9.根据权利要求1至4中任一项所述的延迟时间校正电路，其中，

所述暂态变化检测部通过将针对所述半导体开关元件的测定值与测定阈值进行比较而对暂态变化进行检测，

相应于所检测的暂态变化是导通动作以及截止动作中的哪一个动作，使用不同的值作为所述测定阈值。

10.一种半导体器件驱动电路，其具有：权利要求1至9中任一项所述的延迟时间校正电路；以及所述驱动部。

11.根据权利要求10所述的半导体器件驱动电路，其中，

还具有输入输出延迟调整部，该输入输出延迟调整部相应于由所述延迟输出部而延迟的时间，对所述输出信号相对于所述输入信号的延迟进行调整。

12.根据权利要求10或者11所述的半导体器件驱动电路，其中，

所述延迟输出部具有相应于所述半导体开关元件的暂态变化的期间而被充电的电容，

所述半导体器件驱动电路还具有保护电路，该保护电路能够进行将所述电容的电压设为规定的电压的保护动作。