[发明专利]电子系统及操作方法有效
申请号: | 201710364567.0 | 申请日: | 2017-05-22 |
公开(公告)号: | CN108958509B | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 茹泰;徐瑞庆;陈志强;柯杰斌 | 申请(专利权)人: | 宏碁股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/0354 | 分类号: | G06F3/0354;G06F3/042 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 江耀纯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 系统 操作方法 | ||
1.一种电子系统,其特征在于,包含:
一第一装置,包含:
一光源单元,用来沿一光路发射出一光线:
一光侦测单元,用来侦测一反射光并量测所述反射光的强度;以及
一控制单元,用来根据所述反射光的强度产生一控制信号;以及
一第二装置,包含:
一开关本体;以及
一反射部,设置于所述开关本体之上,其中当所述反射部位于所述光路上时,所述反射部将至少一部分所述光线反射,以形成至少一部分所述反射光;
其中,所述电子系统为一电子笔,所述第一装置为所述电子笔的一笔身,所述第二装置为所述电子笔的一笔盖,于所述第二装置位于一第一位置时所述反射部的一第一区域显露于所述光路上且所述光侦测单元侦测到一第一强度的反射光,于所述第二装置位于一第二位置时所述反射部的一第二区域显露于所述光路上且所述光侦测单元侦测到一第二强度的反射光,其中所述第一区域不同于所述第二区域,以及当所述第二装置由所述第一位置移动至所述第二位置且判断出所述第一强度与所述第二强度的差值大于一临限值时所述控制单元产生所述控制信号。
2.如权利要求1所述的电子系统,其特征在于,所述第一装置及所述第二装置当中的至少一者另包含一吸光部,所述吸光部位于所述光路上,且所述反射部是设置于所述光源单元与所述吸光部之间。
3.如权利要求2所述的电子系统,其特征在于,所述反射部的光反射率大于所述吸光部的光反射率。
4.如权利要求2所述的电子系统,其特征在于,所述反射部的光吸收率小于所述吸光部的光吸收率。
5.如权利要求1所述的电子系统,其特征在于,所述第一装置及第二装置当中的至少一者另包含一开口,所述开口位于所述光路上,且所述反射部是设置于所述光源单元与所述开口之间。
6.如权利要求1所述的电子系统,所述第二装置是以可拆卸方式结合所述第一装置上。
7.如权利要求1所述的电子系统,所述第一装置与所述第二装置是一体成型结构体。
8.如权利要求1所述的电子系统,所述第二装置另包含一复位单元,设置于所述开关本体之上。
9.一种操作方法,用于一电子系统,所述电子系统包含一第一装置与一第二装置,所述第一装置包含一光源单元、一光侦测单元以及一控制单元,所述第二装置包含一开关本体以及一反射部,其中所述电子系统为一电子笔,所述第一装置为所述电子笔的一笔身,所述第二装置为所述电子笔的一笔盖,其中所述操作方法包含︰
利用所述光源单元沿一光路发射出一光线:
利用所述光侦测单元侦测一反射光并量测所述反射光的强度;
当所述反射部位于所述光路上时,利用所述反射部将至少一部分所述光线反射以形成至少一部分所述反射光;以及
利用所述控制单元根据所述反射光的强度产生一控制信号,其中于所述第二装置位于一第一位置时所述反射部的一第一区域显露于所述光路上且利用所述光侦测单元侦测到一第一强度的反射光,于所述第二装置位于一第二位置时所述反射部的一第二区域显露于所述光路上且利用所述光侦测单元侦测到一第二强度的反射光,其中所述第一区域不同于所述第二区域,以及当所述第二装置由所述第一位置移动至所述第二位置且判断出所述第一强度与所述第二强度的差值大于一临限值时所述控制单元产生所述控制信号。
10.如权利要求9所述的操作方法,所述第二装置是以可拆卸方式结合所述第一装置上。
11.如权利要求9所述的操作方法,所述第一装置与所述第二装置是一体成型结构体。
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