[发明专利]一种碳化硅晶体生长用大粒径碳化硅粉料的合成方法有效

专利信息
申请号: 201710366230.3 申请日: 2017-05-19
公开(公告)号: CN108946735B 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 赵宁;彭同华;刘春俊 申请(专利权)人: 新疆天科合达蓝光半导体有限公司;北京天科合达半导体股份有限公司
主分类号: C01B32/984 分类号: C01B32/984;C30B29/36
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王学强
地址: 832099 新疆维吾*** 国省代码: 新疆;65
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摘要:
搜索关键词: 一种 碳化硅 晶体生长 粒径 合成 方法
【说明书】:

发明提供了一种碳化硅晶体生长用大粒径碳化硅(SiC)粉料的合成方法。采用高纯碳粉和高纯硅粉为原料并混合均匀,将混合均匀后的粉末原料分为数份置于坩埚中,每份粉末原料之间用石墨片隔开,将坩埚放入加热炉中,抽真空到炉内部压力小于10‑3Pa后,充入压力为1×104Pa~9×104Pa范围内的惰性气体,再将炉内温度由室温升到SiC粉料合成温度并在此温度和惰性气体压力范围内保持5~30小时,然后将炉内温度降至室温,即可得到碳化硅晶体生长用大粒径(SiC)粉料。本发明制备出的大粒径SiC粉料弥补了现有技术合成的SiC粉料粒径偏小的不足,该方法和装置简单、易于推广、适合大规模工业生产。

技术领域

本发明涉及一种碳化硅晶体生长用大粒径(粒径大于500 um)碳化硅(SiC)粉料的合成方法,属于无机非金属材料领域。

背景技术

在信息技术迅猛发展的今天,半导体技术的革新扮演着越来越重要的角色。以碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)为代表的宽禁带半导体材料,是继硅(Si)、砷化镓(GaAs)之后的第三代半导体。与Si和GaAs为代表的传统半导体材料相比,SiC在耐击穿电压、抗辐射、工作温度等性能方面具有很大优势。作为目前发展最成熟的宽带隙半导体材料,SiC 具有高击穿场强、高热导率、高饱和电子漂移速率和高键合能等优点,其优异性能可以满足现代电子技术对高频、高功率、高温以及抗辐射的新要求,因而被看作是半导体材料领域最有前景的材料之一。此外,由于六方SiC与GaN相近的晶格常数及热膨胀系数,因此也成为制造高亮度发光二极管的理想衬底材料。

SiC粉料的质量在物理气相传输法生长碳化硅晶体时有着重要的作用,直接影响晶体的结晶质量和生长长度。随着碳化硅衬底在电子电子器件方面的大规模应用,高质量和大尺寸碳化硅晶体的需求越来越迫切,对碳化硅粉料的质量和粒径的要求也越来越高。因此粒径可控的大粒径SiC粉料的制备对于碳化硅晶体的生长非常重要。

发明内容

本发明的目的是提供一种碳化硅晶体生长用大粒径碳化硅(SiC)粉料的合成方法。

一种碳化硅晶体生长用大粒径碳化硅(SiC)粉料的合成方法,包括以下步骤:

采用高纯硅粉和高纯碳粉为原料,采用高纯硅粉和高纯碳粉为原料并混合均匀,将混合均匀后的粉末原料分为数份置于坩埚中,每份粉末原料之间用石墨片隔离;

将上述坩埚放入加热炉中,抽真空到炉内部压力小于10-3Pa后,充入压力为1×104Pa到9×104Pa范围内的惰性气体;

再将炉内温度由室温升到SiC粉料合成温度并在此温度和惰性气体压力为1×104Pa到9×104Pa范围内保持5~30小时;

然后将炉内温度降至室温,即可得到碳化硅晶体生长用的大粒径SiC粉料。

进一步地,高纯硅粉和高纯碳粉的纯度均大于99.998%。

更进一步地,高纯硅粉和高纯碳粉的粒径均小于200um。

更进一步地,高纯硅粉和高纯碳粉为原料的摩尔比范围为1:1~1.5:1,优选1:1。

更进一步地,石墨片的密度为1.0 g/cm3~1.9 g/cm3。

更进一步地,石墨片的形状为圆形。

更进一步地,石墨片的直径比坩埚内径小0.2~2mm。

更进一步地,石墨片与相邻石墨片之间的距离为10~150mm,优选20~50mm。

更进一步地,数份为2~11份,隔离用的石墨片数量为1~10个。

更进一步地,加热炉包括高频感应加热炉、中频感应加热炉、石墨电阻加热炉。

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