[发明专利]一种器件建模中最优器件的自动选择方法及系统

说明书

本发明公开了一种器件建模中最优器件的自动选择方法及系统，该方法包括如下步骤：步骤一，对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标进行计算获取；步骤二，将各项指标进行归一化处理，根据建模需求对各项指标设定不同比重；步骤三，利用设定的比重对各个不同尺寸的器件进行计算，选择综合性能最好的最优器件去进行器件建模，通过本发明，可对器件建模中最优器件的选择进行改进，保证最后选择的器件是最优器件。

技术领域

本发明涉及半导体器件建模领域，特别是涉及一种器件建模中最优器件的自动选择方法及系统。

背景技术

在现有SPICE建模技术中，业界通用的最优器件选择方法是根据mapping测试数据，使用excel对每个器件测试结果的各项指标(Vtlin,Vtsat,Idlin,Idsat等)进行计算筛选，设定一定范围，根据各项指标结果综合考虑评估，各项指标都在范围内的几个die进行建模。这种选择方法存在两个主要的问题：其一，计算过程异常繁琐，容易出错，耗费时间；其二，选出的器件只是在较好的范围内，但不能保证是最优器件。

发明内容

为克服上述现有技术存在的不足，本发明之目的在于提供一种器件建模中最优器件的自动选择方法及系统，以对器件建模中最优器件的选择进行改进，保证最后选择的器件是最优器件。

为达上述及其它目的，本发明提出一种器件建模中最优器件的自动选择方法，包括如下步骤：

步骤一，对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标进行计算获取；

步骤二，将各项指标进行归一化处理，根据建模需求对各项指标设定不同比重；

步骤三，利用设定的比重对各个不同尺寸的器件进行计算，选择综合性能最好的最优器件去进行器件建模。

进一步地，于步骤一中，根据mapping测试的结果，对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标进行计算获取。

进一步地，于步骤三中，利用设定的比重对各个不同尺寸的器件计算综合误差，根据综合误差选择综合误差最小的器件为最优器件。

进一步地，于步骤三中，利用以下计算公式计算该综合误差：

ERR＝a₁*f(Vtlin-median(∑Vtlin_i))+a₂*f(Vtsat-median(∑Vtsat_i))+a₃*f(Idlin-median(∑Idlin_i))+a₄*f(Idsat-median(∑Idsat_i))+a₅*f(Vtgm-median(∑Vtgm_i))+a₆*f(Ioff-median(∑Ioff_i))+a₇*f(Gm-median(∑Gm_i))+a₈*f(Gdx-median(∑Gdx_i))

其中，Vtlin，Vtsat，Vtgm，Idlin，Idsat，Ioff，Gm，Gdx为测试结果的各项指标，a_i代表各项指标的比重系数；f()代表归一化函数，median(∑Vtlin_i)代表一颗器件的mapping数据的Vtlin取median值，其他项同理，ERR为综合误差，与median数据综合误差值最小的器件即是最优器件。

进一步地，a₁+a₂+…+a₈＝1。

为达到上述目的，本发明还提供一种器件建模中最优器件的自动选择系统，包括：

指标获取单元，用于对各个不同尺寸的器件的测试结果的各项指标进行计算获取；