[发明专利]一种RTC晶振的检测方法有效
| 申请号： | 201710369759.0 | 申请日： | 2017-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN107219395B | 公开（公告）日： | 2019-06-18 |
| 发明（设计）人： | 田周鹏 | 申请（专利权）人： | 郑州云海信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 | 代理人： | 王汝银 |
| 地址： | 450018 河南省郑州市*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 rtc 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种RTC晶振的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：通过I/O端口读取CMOS RAM状态寄存器A、B、C的设置，并将读取到的数据保存；
S2：设置寄存器A，实现测试过程中的中断能够发出和时钟连续更新；
S3：设置寄存器B中的中断标志位，使闹钟中断有效；
S4：读取当前的CMOS时间，记为start_time；
S5：将CMOS时间调快；
S6：检查闹钟中断标志位在寄存器C中是否有效；
S7：设定闹钟中断发出；
S8：检查闹钟中断是否发出，如果发出，读取CMOS时间，记为end_time；如果end_time减去start_time不等于步骤S5中CMOS的调快时间，则表示RTC晶振震荡有问题；反之，则表示RTC晶振震荡合格。
2.根据权利要求1所述的一种RTC晶振的检测方法，其特征在于，所述步骤S8中，在RTC晶振震荡经过检测合格时，将步骤S1保存的CMOS RAM的状态寄存器A、B、C的数据，恢复到相应的寄存器中去。
3.根据权利要求1所述的一种RTC晶振的检测方法，其特征在于，所述步骤S5中，CMOS时间调快1～5秒。
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