[发明专利]一种基于标定场的激光雷达两步标定方法有效

专利信息
申请号: 201710371583.2 申请日: 2017-05-24
公开(公告)号: CN107167790B 公开(公告)日: 2019-08-09
发明(设计)人: 吴奋陟;王立;郭绍刚;朱飞虎;吴云;刘达 申请(专利权)人: 北京控制工程研究所
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 陈鹏
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 标定 激光雷达 方法
【说明书】:

发明公开了一种基于标定场的激光雷达两步标定方法,包括步骤:建立标定场、定标、角度标定准备、经纬仪组网、激光雷达扫描、经纬仪测量、建立角度修正方程、计算角度修正系数、建立基线场、激光雷达测量、经纬仪测量、建立距离修正方程、计算距离修正系数;本发明通过采用不需要精密设计与加工的标定装置作为标定基准,实现了对激光雷达的快速标定;解决了常规方法对测试场地、标定场以及标定装置要求过高的问题;通过转台配合实现整个测试过程,降低了测试难度,克服了常规方法难以保证全视场角度修正精度的难题;通过标定场与基线场的分步测试,达到了从标定模型中,分离距离修正的效果,弥补了常规方法距离参数与角度参数相互耦合的缺陷。

技术领域

本发明涉及一种激光雷达的标定方法,属于成像敏感器标定技术领域。

背景技术

激光雷达是用于对空间非合作目标进行目标捕获、距离和角度测量、位置和姿态测量以及三维重构的新型激光测量敏感器。为保证激光雷达对非合作目标的成功捕获概率,要求该敏感器在整个测程内,均具有较高的角度测量精度。因此,如何高精度的修正激光雷达的测角和测距误差、确定激光雷达测量本体系的位置和姿态,是实现敏感器高精度测量的前提,也是激光雷达标定需解决的问题。

现有技术中,常规方法多采用平面度较好的平板、利用平面特征约束标定激光雷达,上述方法一方面对标定装置具有较高的设计和加工要求;另一方面,虽然能够在一定程度上,修正激光雷达测量的系统误差,但由于标定时,距离测量参数与角度参数相互耦合,使得其角度标定受到距离测量精度的影响难以保证其标定精度。

发明内容

本发明的技术解决问题是:克服现有技术的不足,本发明提供了一种基于标定场的激光雷达两步标定方法,通过采用不需要精密设计与加工的标定装置作为标定基准,实现了对激光雷达的快速标定;解决了常规方法对测试场地、标定场以及标定装置要求过高的问题;通过转台配合实现整个测试过程,降低了测试难度,克服了常规方法难以保证全视场角度修正精度的难题;通过标定场与基线场的分步测试,达到了从标定模型中,分离距离修正的效果,弥补了常规方法距离参数与角度参数相互耦合的缺陷。

本发明的技术解决方案是:

一种基于标定场的激光雷达两步标定方法,包括如下步骤:

步骤一:将N个反射目标布设在黑色背景板上,建立激光雷达角度标定场;

步骤二:利用摄影测量相机定标标定场,测量N个反射目标的几何中心在标定场本体坐标系下的位置,坐标值设为(XCi,YCi,ZCi);

步骤三:将激光雷达安装于转台上,设置激光雷达的初始扫描范围及转台角度,并在激光雷达的出光方向上放置标定场;

步骤四:架设第一经纬仪A1、第二经纬仪A2和第三经纬仪A3,通过互瞄内觇标和绝对长度测量对第一经纬仪A1、第二经纬仪A2和第三经纬仪A3进行绝对定向;

步骤五:定义激光雷达基准镜坐标系,利用第一经纬仪A1、第二经纬仪A2和第三经纬仪A3准直建立激光雷达基准镜坐标系;

步骤六:从N个反射目标中选取U个目标,利用第二经纬仪A2和第三经纬仪A3测量U个目标的几何中心在激光雷达基准镜坐标系下的位置,对应的坐标值分别设为(XJPk,YJPk,ZJPk),XJPk,YJPk,ZJPk分别为第k个反射目标在激光雷达基准镜坐标系X方向、Y方向和Z方向的坐标分量;

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