[发明专利]确定Redriver芯片参数的方法和装置在审
申请号: | 201710373580.2 | 申请日: | 2017-05-24 |
公开(公告)号: | CN107329774A | 公开(公告)日: | 2017-11-07 |
发明(设计)人: | 顾德强 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | G06F9/445 | 分类号: | G06F9/445;G06F11/22 |
代理公司: | 北京龙双利达知识产权代理有限公司11329 | 代理人: | 张振,张欣 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 确定 redriver 芯片 参数 方法 装置 | ||
技术领域
本申请涉及服务器和存储领域,并且更具体地,涉及一种确定Redriver芯片参数的方法和装置。
背景技术
目前,随着服务器性能的提升,服务器的拓扑结构变得越来越复杂,外围部件互连标准(Peripheral Component Interconnect express,PCIE)链路也变的越来越长。为了使得PCIE链路中的信号在经过长距离传输到达终端时,信号质量仍然能够满足要求,通常会在PCIE链路上设置Redriver芯片,使得信号在传输一段时间后能够得到加强。不同的PCIE链路的长度以及走线损耗一般不同,因此,为了保证PCIE链路上传输信号的质量,需要为不同的Redriver芯片设置不同的配置参数。
现有的方案是采用手动设置Redriver芯片的上下拉电阻的方式来为Redriver芯片配置参数,配置完参数后与Redriver芯片对应的中央处理器(Central Processing Unit,CPU)启动测试,得到测试参数,如果该测试参数不满足要求的话,继续手动为Redriver芯片配置参数,然后再测试相应CPU的RX参数,直到满足要求。这种设置Redriver芯片的配置参数的方式效率很低,需要人工反复多次设置,并且还不一定能找到最优的配置参数。
发明内容
本申请提供一种确定Redriver芯片参数的方法和装置,能够提高配置参数的效率。
第一方面,提供了一种确定Redriver芯片参数的方法,该方法包括:控制器为Redriver芯片配置参数;所述控制器通知所述Redriver芯片对应的中央处理器CPU启动测试,以得到测试参数,其中,所述测试参数用于指示所述Redriver芯片配置所述参数时所述CPU接收到的信号的质量;所述控制器接收所述CPU发送的所述测试参数;所述控制器根据所述测试参数的参数值,确定Redriver芯片的目标参数。
上述控制器具体可以为基板管理控制器(Baseboard Management Controller,BMC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)等具有控制功能的模块。
上述测试参数具体可以是眼图参数。
上述Redriver芯片和其对应的CPU可以位于同一个PCIE链路中。
控制器在为Redriver芯片配置参数后,可以自动的通知CPU启动相应的测试,以便根据测试参数的参数值来自动确定Redriver芯片目标参数,提高了确定Redriver芯片的目标参数的效率。
结合第一方面,在第一方面的某些实现方式中,在测试参数的参数值大于预设阈值的情况下,控制器将所述参数确定为目标参数。
通过设置预设阈值,将满足预设阈值的参数确定为目标参数,从而方便地确定能够满足要求的参数。例如,可以将PCIE链路的信号满足要求时对应的测试参数的参数值确定为预设阈值,接下来在配置参数的过程中只要测试参数的参数值能够大于或者等于该预设阈值,那么这时测试参数对应的Redriver芯片配置的参数就是目标参数。
结合第一方面,在第一方面的某些实现方式中,所述参数包括第一参数至第N参数,所述测试参数包括第一测试参数至第N测试参数,其中,第i参数对应第i测试参数,N为大于1的整数,i为小于等于N且大于等于1的整数,所述控制器根据所述测试参数的参数值,确定Redriver芯片的目标参数,包括:所述控制器从所述第一测试参数至第N测试参数中确定目标测试参数,所述目标测试参数的参数值大于所述第一测试参数至第N测试参数中的其它参数的参数值;所述控制器将所述目标测试参数对应的参数确定为所述目标参数。
通过比较多个测试参数的参数值的大小,能够确定出参数值最大的测试参数,从而将或者该测试参数时Redriver芯片配置的参数确定为目标参数,实现了从多个为Redriver芯片配置的参数确定目标参数的目的。
结合第一方面,在第一方面的某些实现方式中,所述控制器从所述第一测试参数至第N测试参数中确定目标测试参数,包括:所述控制器采用冒泡法从所述第一测试参数至第N测试参数中确定所述目标测试参数。
采用冒泡法便于控制器从多个测试参数中方便快速地确定目标测试参数。
结合第一方面,在第一方面的某些实现方式中,所述控制器为Redriver芯片配置参数,包括:所述控制器通过内部整合电路(Inter Integrated Circuit,I2C)总线为所述Redriver芯片配置参数。
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