[发明专利]X射线荧光分析法测定煤的灰分的方法

权利要求书

1.一种X射线荧光分析法测定煤的灰分的方法，其特征在于，其包括：

1)将煤样品粉磨，制成粉末压片，用X射线荧光分析法测定煤样品中各氧化物对应元素i的X射线荧光强度I_i；

2)令D＝4.0，其中D值符合公式(1)：

D＝(1-A)/A (1)

其中A为煤的灰分；

3)按照公式(2)计算各氧化物的质量百分数C_i，按照公式(3)计算各氧化物质量百分数的总和SUM，按照公式(4)计算各氧化物的归一化质量百分数C_0i：

C_i＝K_iI_i(1+Dα_i) (2)

SUM＝∑C_i (3)

C_0i＝C_i/SUM (4)

其中，K_i和α_i满足公式(5)和(6)：

K_i＝μ_Ai/Q_i (5)

Q_i为比例常数，μ_Ai为煤样品中灰分对元素i的荧光X射线的质量吸收系数，μ_0i为煤样品的可燃性碳及有机物对元素i的荧光X射线的质量吸收系数；

4)根据公式(4)求得的二氧化硅的归一化质量百分数，将所述的二氧化硅的归一化质量百分数作为二氧化硅的质量百分数，用式(7)计算D值：

5)利用步骤4)求得的D值，重复步骤3)和步骤4)；

6)迭代至SUM＝1.00000±0.00001时，对应的D值代入式(1)可计算煤的灰分A。

2.根据权利要求1所述的X射线荧光分析法测定煤的灰分的方法，其特征在于，所述的煤样品的细度为200-300目。

3.根据权利要求1所述的X射线荧光分析法测定煤的灰分的方法，其特征在于，所述的煤样品中的氧化物包括二氧化硅、三氧化二铝、三氧化二铁、二氧化钛、氧化钙、氧化镁、三氧化硫、氧化钾、氧化钠、氧化锰和五氧化二磷。