[发明专利]物品检测方法和装置在审

专利信息
申请号: 201710388229.0 申请日: 2017-05-27
公开(公告)号: CN108956647A 公开(公告)日: 2018-12-07
发明(设计)人: 张兆宇;底欣;田军;奥琛 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00;G01V9/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 陶海萍
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 待检测物品 发射信号 反射信号 反射物 反射 方法和装置 检测 收发单元 物品检测 透射 叠加信号 非接触式 特性检测 便利性 发送
【权利要求书】:

1.一种物品检测装置,其中,所述装置包括:收发单元、第一处理单元和反射物;

所述收发单元向置于所述收发单元和所述反射物之间的待检测物品发送第一发射信号;并接收所述第一发射信号经所述待检测物品和所述反射物反射后的第一接收信号;

所述第一处理单元根据所述第一接收信号的第一特性检测所述待检测物品;

其中,所述第一接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号,所述第一反射信号是所述第一发射信号经所述待检测物品反射后的信号,所述第二反射信号是所述第一发射信号经所述待检测物品透射后、经过所述反射物反射后再次经所述待检测物品透射的信号。

2.一种物品检测装置,其中,所述装置包括:收发单元、第一处理单元、第二处理单元、控制单元和反射物;

所述收发单元向所述待检测物品发送第二发射信号,由所述收发单元接收所述第二发射信号经所述待检测物品反射后的第二接收信号;

所述第二处理单元根据所述第二接收信号的第一特性检测所述待检测物品;

在所述第二处理单元根据所述第二接收信号的第一特性不能检测出所述待检测物品时,所述控制单元控制所述反射物放置在所述待检测物品的与所述收发单元相反的一侧;

所述收发单元向置于所述收发单元和所述反射物之间的待检测物品发送第一发射信号;并接收所述第一发射信号经所述待检测物品和所述反射物反射后的第一接收信号;

所述第一处理单元根据所述第一接收信号的第一特性检测所述待检测物品;

其中,所述第一接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号,所述第一反射信号是所述第一发射信号经所述待检测物品反射后的信号,所述第二反射信号是所述第一发射信号经所述待检测物品透射后、经过所述反射物反射后再次经所述待检测物品透射的信号。

3.根据权利要求1或2所述的装置,其中,所述反射物采用反射性高,散射性低的材质。

4.根据权利要求1或2所述的装置,其中,所述第一特性是反射信号强度。

5.根据权利要求1或2所述的装置,其中,所述反射物是金属板、或者能够聚光的光学透镜。

6.根据权利要求1所述的装置,其中,所述装置还包括:

第一确定单元,其用于将所述第一接收信号与所述第一发射信号进行混频处理,以获得相应的第一基带信号,计算所述第一基带信号的能量平均值,以得到所述第一接收信号的第一特性。

7.根据权利要求2所述的装置,其中,所述装置还包括:

第二确定单元,其用于将所述第二接收信号与所述第二发射信号进行混频处理,以获得相应的第二基带信号,对所述第二基带信号进行快速傅里叶变换,以得到所述第二接收信号的第一特性;或者,将所述第二接收信号与所述第二发射信号进行混频处理,以获得相应的第二基带信号,计算所述第二基带信号的能量平均值,以得到所述第二接收信号的第一特性。

8.根据权利要求6或7所述的装置,其中,所述第一发射信号或第二发射信号是周期信号,所述第一确定单元或第二确定单元计算第二预定数量个周期内第一预定数量个采样点的第一能量值和;其中,每个周期内的采样点数量等于第一预定数量与第二预定数量的比值;将所述第一能量值和与第一预定数量个采样点的比值作为所述第一特性。

9.根据权利要求2所述的装置,其中,所述第二处理单元根据预存的第二参考特性范围和物品的对应关系以及所述第二接收信号的第一特性检测所述待检测物品,所述第一处理单元根据预存的第一参考特性范围和物品的对应关系以及所述第一接收信号的第一特性检测所述待检测物品。

10.一种物品检测方法,其中,所述方法包括:

由收发单元向置于所述收发单元和反射物之间的待检测物品发送第一发射信号;并接收所述第一发射信号经所述待检测物品和所述反射物反射后的第一接收信号;

根据所述第一接收信号的第一特性检测所述待检测物品;

其中,所述第一接收信号是第一反射信号和第二反射信号的叠加信号,所述第一反射信号是所述第一发射信号经所述待检测物品反射后的信号,所述第二反射信号是所述第一发射信号经所述待检测物品透射后、经过所述反射物反射后再次经所述待检测物品透射的信号。

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