[发明专利]用于光纤氢损测试处理系统的设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于光纤氢损测试处理系统的设备，属于光纤检测设备领域。

背景技术

光纤氢损是由于氢气的原因在光纤中引起附加损耗的一种现象。是氢气扩散进入光纤玻璃中和玻璃中的缺陷发生反应，在1240nm、1383nm、1530nm波长上造成光纤衰减增加的过程。氢损试验是对常态氢损过程的一种加速模拟过程，是为了验证氘处理过程是否有效降低或消除光纤内缺陷，检测1240nm、1383nm波长在氢损过程中的衰减程度。试验评判：波长附加衰减1240nm≥0.03dB/km,1383nm≤0.01dB/km，试验后1383nm波长衰减小于试验前1310nm波长衰减。

在光纤生产过程中，光纤预制棒经过拉丝、筛选、检测、氘处理、性能试验(含氢损试验)、入库。通过高温拉丝得到光纤存在着缺陷，这些缺陷的存在会导致光纤在氢损后附加损耗明显增加，使得氢损后在1383±3nm的衰减系数大于了1310nm规定的衰减系数，不符合低水峰光纤的标准。含有缺陷的光纤通过氘处理的方法可以防止因氢损而导致1383±3nm的衰减系数增大。氘处理是否有效，无法直接通过检测衰减系数来判断，只能通过“氢损试验”来验证光纤氘处理过程是否降低和消除光纤内的缺陷，不会因光纤氢损再导致衰减增大。

目前的氢损试验工作常用人工控制气压，加温及试验时间等参数。人工控制存在测试精度较差，容易出现人为误差的系统缺陷，且由于密闭性容器高温工作状态下会使密封条老化出现漏气等异常情况，经常需要重复试验，浪费时间、人力及物力。

发明内容

(一)要解决的技术问题

本发明的目的是提供一种自动化控制的用于光纤氢损测试处理系统的设备。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题，本发明提供的一种用于光纤氢损测试处理系统的设备，包括：

氢损试验桶，安装有压力传感器和温度传感器；

水循环加热系统，包括水罐、循环泵、加热器和换热水管，所述加热器安装在水罐上，用于给水罐内水加热；所述水罐连通换热水管，所述循环泵安装在换热水管上，用于驱动水流在水罐及换热水管内循环流动；所述换热水管至少局部深入氢损试验桶内；

气液控制系统，包括氢氮混合气体阀、氮气阀、流量计和放气阀；所述氢氮混合气体阀、氮气阀和放气阀连接氢损试验桶；所述流量计位于氢氮混合气体阀后端的管路上，所述氢氮混合气体阀用于控制氢气或氢气混合气输入到氢损试验桶中；所述氮气阀用于将控制氮气输入到氢损试验桶中；所述流量计用于控制通入氢损试验桶的氢氮混合气体的流量；

控制单元，电性连接氢氮混合气体阀、氮气阀、放气阀、压力传感器、流量计、温度传感器和加热器；所述控制单元用于接受压力传感器、温度传感器反馈的信息，并控制氢氮混合气体阀、氮气阀、放气阀和加热器的开启或关闭，以及控制通入氢损试验桶的氢氮混合气体的流量。

其中，还包括补水阀，所述补水阀通过水管连接水罐，所述补水阀用于补充水水罐内液位；所述补水阀电性连接控制单元。

其中，所述水罐上还包括高低液位计，所述高低液位计安装在水罐一侧；所述高低液位计电性连接控制单元，所述控制单元还用于接收高低液位计反馈的信息，并调节补水阀的开启或关闭。

其中，所述水循环加热系统还设有警报消除按钮和报警灯，所述警报消除按钮、报警灯电性连接控制单元。

其中，所述氢损试验桶上还设有泄气安全阀，所述泄气安全阀用于防止氢损试验桶超出预定安全压力。

其中，所述氢损试验桶上还连接压力表，所述压力表用于检测氢损试验桶内气体压力。

其中，所述控制单元为可编程逻辑控制器。

(三)有益效果

本发明提供的一种用于光纤氢损测试处理系统的设备，其具有以下优点：

1、本发明采用控制单元、氢损试验桶和气液控制系统等装置组合使用，实现了自动控制氢损测试压力和温度，提高了数据的准确性及稳定性，减少了重复测试的概率，节约了人力、物力及时间。

2、本发明采用与控制单元相连的补水阀和高低液位计，实现自动地对水循环加热系统进行补水，保证水罐内的液体的液位水平，避免了水烧干后出现空烧的风险。

3、本发明在氢损试验桶上连接压力表，实现了操作人员巡检时，可以直接观察氢损试验桶上的气体压力并与控制单元显示的气体压力进行对比，采用双重保障的压力控制，将氢气泄漏风险降到最低，并降低了重复测试的可能性。

附图说明

图1是本发明的结构示意图；